کد مقاله | کد نشریه | سال انتشار | مقاله انگلیسی | نسخه تمام متن |
---|---|---|---|---|
10669932 | 1008845 | 2012 | 7 صفحه PDF | دانلود رایگان |
عنوان انگلیسی مقاله ISI
Influence of thickness on the crystallography and surface topography of TiN nano-films deposited by reactive DC and pulsed magnetron sputtering
دانلود مقاله + سفارش ترجمه
دانلود مقاله ISI انگلیسی
رایگان برای ایرانیان
کلمات کلیدی
Pulsed magnetron sputtering - اسپکترومغناطیسی مگنترون پالسیReactive magnetron sputtering - اسپکترومغناطیسی واکنش پذیرCrystallographic texture - بافت بلوریtitanium nitride - تیتانیوم نیتریدSurface roughness - زبری سطح Crystallographic structure - ساختار بلوریatomic force microscopy - میکروسکوپ نیروی اتمیX-ray diffraction - پراش اشعه ایکس
موضوعات مرتبط
مهندسی و علوم پایه
مهندسی مواد
فناوری نانو (نانو تکنولوژی)
پیش نمایش صفحه اول مقاله

چکیده انگلیسی
⺠50 nm and 500 nm thick TiN films are applied by continuous and pulsed sputtering. ⺠All the films are polycrystalline and mono-phase. ⺠50 nm films have a strong {111} in plane crystallographic texture. ⺠During growth texture weakens and crystal perfection and surface smoothness increase. ⺠The surfaces are smoother when the films are applied by pulsed sputtering.
ناشر
Database: Elsevier - ScienceDirect (ساینس دایرکت)
Journal: Thin Solid Films - Volume 520, Issue 16, 1 June 2012, Pages 5333-5339
Journal: Thin Solid Films - Volume 520, Issue 16, 1 June 2012, Pages 5333-5339
نویسندگان
I. Iordanova, P.J. Kelly, M. Burova, A. Andreeva, B. Stefanova,