کد مقاله کد نشریه سال انتشار مقاله انگلیسی نسخه تمام متن
10669932 1008845 2012 7 صفحه PDF دانلود رایگان
عنوان انگلیسی مقاله ISI
Influence of thickness on the crystallography and surface topography of TiN nano-films deposited by reactive DC and pulsed magnetron sputtering
موضوعات مرتبط
مهندسی و علوم پایه مهندسی مواد فناوری نانو (نانو تکنولوژی)
پیش نمایش صفحه اول مقاله
Influence of thickness on the crystallography and surface topography of TiN nano-films deposited by reactive DC and pulsed magnetron sputtering
چکیده انگلیسی
► 50 nm and 500 nm thick TiN films are applied by continuous and pulsed sputtering. ► All the films are polycrystalline and mono-phase. ► 50 nm films have a strong {111} in plane crystallographic texture. ► During growth texture weakens and crystal perfection and surface smoothness increase. ► The surfaces are smoother when the films are applied by pulsed sputtering.
ناشر
Database: Elsevier - ScienceDirect (ساینس دایرکت)
Journal: Thin Solid Films - Volume 520, Issue 16, 1 June 2012, Pages 5333-5339
نویسندگان
, , , , ,