کد مقاله کد نشریه سال انتشار مقاله انگلیسی نسخه تمام متن
10670661 1008976 2005 7 صفحه PDF دانلود رایگان
عنوان انگلیسی مقاله ISI
Infrared spectroscopic ellipsometry and atomic force microscopy study of plasma polymerized hexamethyldisiloxane layers post-treated by NH3 plasma
موضوعات مرتبط
مهندسی و علوم پایه مهندسی مواد فناوری نانو (نانو تکنولوژی)
پیش نمایش صفحه اول مقاله
Infrared spectroscopic ellipsometry and atomic force microscopy study of plasma polymerized hexamethyldisiloxane layers post-treated by NH3 plasma
چکیده انگلیسی
The surface morphology was imaged by atomic force microscopy. The data revealed that the NH3 treatment had caused distinct micro-structural modification on the top layer surface. The size of the nodule aggregates was largely reduced and this contributed to a much better developed top surface.
ناشر
Database: Elsevier - ScienceDirect (ساینس دایرکت)
Journal: Thin Solid Films - Volume 476, Issue 1, 1 April 2005, Pages 174-180
نویسندگان
, , , , ,