کد مقاله | کد نشریه | سال انتشار | مقاله انگلیسی | نسخه تمام متن |
---|---|---|---|---|
1665613 | 1518053 | 2014 | 7 صفحه PDF | دانلود رایگان |
عنوان انگلیسی مقاله ISI
Dielectric spectroscopy of electron beam deposited yttrium oxide films examined in metal-insulator-metal sandwich type structures
ترجمه فارسی عنوان
طیف سنجی دی الکتریک از پرتو الکترونی فیلم های اکسید یتیم سپرده شده که در ساختارهای نوع ساندویچ فلزی
دانلود مقاله + سفارش ترجمه
دانلود مقاله ISI انگلیسی
رایگان برای ایرانیان
کلمات کلیدی
اکسید یونی اکسید زمین نادر، طیف سنجی دی الکتریک، پاسخ دی الکتریک، فلزات مصالح ساختمانی فلزی،
موضوعات مرتبط
مهندسی و علوم پایه
مهندسی مواد
فناوری نانو (نانو تکنولوژی)
چکیده انگلیسی
This report describes the dielectric properties of electron-beam deposited Y2O3 thin films examined in metal-insulator-metal-type structures fabricated onto quartz substrates. The dielectric measurements have been carried out in the frequency domain from 10Â mHz to 10Â MHz, with a frequency response analyser. Frequency characteristics of the complex capacitance, as well as Cole-Cole and Nyquist graphs, have been presented and discussed for the temperature range 398-523Â K. The results have been analyzed in terms of equivalent circuit models containing resistance-capacitance and constant phase elements (CPE). We have determined the values of the resistance, capacitance and CPE, which characterize the Y2O3 film and near-electrode regions. It has been shown that for high frequencies/low temperatures the dielectric properties are connected with Y2O3 film, while for low frequencies/high temperatures the dielectric response is dominated by the near-electrode regions. In the frequency range 0.1-10Â MHz the important contribution of series resistance of electrodes and leads has been observed.
ناشر
Database: Elsevier - ScienceDirect (ساینس دایرکت)
Journal: Thin Solid Films - Volume 551, 31 January 2014, Pages 188-194
Journal: Thin Solid Films - Volume 551, 31 January 2014, Pages 188-194
نویسندگان
Tadeusz Wiktorczyk, Piotr BiegaÅski,