کد مقاله | کد نشریه | سال انتشار | مقاله انگلیسی | نسخه تمام متن |
---|---|---|---|---|
1669285 | 1008882 | 2010 | 5 صفحه PDF | دانلود رایگان |
عنوان انگلیسی مقاله ISI
Finite element analysis of antireflective silicon nitride sub-wavelength structures for solar cell applications
دانلود مقاله + سفارش ترجمه
دانلود مقاله ISI انگلیسی
رایگان برای ایرانیان
کلمات کلیدی
موضوعات مرتبط
مهندسی و علوم پایه
مهندسی مواد
فناوری نانو (نانو تکنولوژی)
پیش نمایش صفحه اول مقاله
![عکس صفحه اول مقاله: Finite element analysis of antireflective silicon nitride sub-wavelength structures for solar cell applications Finite element analysis of antireflective silicon nitride sub-wavelength structures for solar cell applications](/preview/png/1669285.png)
چکیده انگلیسی
We numerically calculate the spectral reflectivity of the silicon nitride (Si3N4) sub-wavelength structure (SWS) using a two-dimensional finite element simulation. The geometry-dependent effective reflectance of the Si3N4 SWS over the wavelength ranging from 400 nm to 1000 nm is examined and the structure of Si3N4 SWS is further optimized for the lowest effective reflectance. A p–n junction solar cell efficiency based on the optimized Si3N4 SWS is also calculated, resulting in an improvement of 0.98% in efficiency than that of single layer antireflection coatings.
ناشر
Database: Elsevier - ScienceDirect (ساینس دایرکت)
Journal: Thin Solid Films - Volume 518, Issue 24, 1 October 2010, Pages 7204–7208
Journal: Thin Solid Films - Volume 518, Issue 24, 1 October 2010, Pages 7204–7208
نویسندگان
Huang-Ming Lee, Kartika Chandra Sahoo, Yiming Li, Jong-Ching Wu, Edward Yi Chang,