کد مقاله | کد نشریه | سال انتشار | مقاله انگلیسی | نسخه تمام متن |
---|---|---|---|---|
1669559 | 1008885 | 2009 | 4 صفحه PDF | دانلود رایگان |
عنوان انگلیسی مقاله ISI
Comparative study of electro-physical properties of heterostructures containing PECVD nanocrystalline and anodic porous silicon layers
دانلود مقاله + سفارش ترجمه
دانلود مقاله ISI انگلیسی
رایگان برای ایرانیان
کلمات کلیدی
موضوعات مرتبط
مهندسی و علوم پایه
مهندسی مواد
فناوری نانو (نانو تکنولوژی)
پیش نمایش صفحه اول مقاله
چکیده انگلیسی
We performed a comparative study of the electro-physical properties of heterostructures containing PECVD nanocrystalline silicon (nc-Si) and electro-chemically etched porous silicon (PS) layers over a wide range of thicknesses, in terms of their energy parameters. Based on the proposed analytical expressions and the experimental current–voltage and capacitance–voltage characteristics, we studied the characteristics of the surface states at the nc-Si(or PS) interfaces in Pd-nc-Si(or PS)-p-Si heterostructures. The results revealed that the surface states play an essential role in the carrier transport in both types of heterostructures that were investigated.
ناشر
Database: Elsevier - ScienceDirect (ساینس دایرکت)
Journal: Thin Solid Films - Volume 517, Issue 14, 29 May 2009, Pages 3912–3915
Journal: Thin Solid Films - Volume 517, Issue 14, 29 May 2009, Pages 3912–3915
نویسندگان
V.A. Vikulov, V.V. Korobtsov, A.A. Dimitriev, K. Kim, S. Jung, J. Yi,