کد مقاله | کد نشریه | سال انتشار | مقاله انگلیسی | نسخه تمام متن |
---|---|---|---|---|
1671612 | 1008920 | 2007 | 5 صفحه PDF | دانلود رایگان |
عنوان انگلیسی مقاله ISI
Investigation of structural properties of ITO thin films deposited on different substrates
دانلود مقاله + سفارش ترجمه
دانلود مقاله ISI انگلیسی
رایگان برای ایرانیان
کلمات کلیدی
موضوعات مرتبط
مهندسی و علوم پایه
مهندسی مواد
فناوری نانو (نانو تکنولوژی)
پیش نمایش صفحه اول مقاله
چکیده انگلیسی
The influence of the substrate nature on the structure and morphology of ITO thin films grown by thermal evaporation in vacuum is investigated. The as-prepared metal films with Sn/In molar ratio of 0.1 were subsequently annealed for 2 h at 723 K in air (to obtain tin doped indium oxide), then annealed in vacuum at 523 K, followed by UV irradiation (to reduce the electrical resistivity). Irrespective of substrate nature, XRD data evidence a (222) preferential orientation in films. Substrate nature, annealing in vacuum and UV irradiation influence the structure, morphology, optical, electrical and surface wetting properties of the films' surface.
ناشر
Database: Elsevier - ScienceDirect (ساینس دایرکت)
Journal: Thin Solid Films - Volume 515, Issue 24, 15 October 2007, Pages 8674–8678
Journal: Thin Solid Films - Volume 515, Issue 24, 15 October 2007, Pages 8674–8678
نویسندگان
M. Purica, F. Iacomi, C. Baban, P. Prepelita, N. Apetroaei, D. Mardare, D. Luca,