کد مقاله | کد نشریه | سال انتشار | مقاله انگلیسی | نسخه تمام متن |
---|---|---|---|---|
1675509 | 1008980 | 2007 | 8 صفحه PDF | دانلود رایگان |
عنوان انگلیسی مقاله ISI
Studies of oxide-based thin-layered heterostructures by X-ray scattering methods
دانلود مقاله + سفارش ترجمه
دانلود مقاله ISI انگلیسی
رایگان برای ایرانیان
کلمات کلیدی
موضوعات مرتبط
مهندسی و علوم پایه
مهندسی مواد
فناوری نانو (نانو تکنولوژی)
پیش نمایش صفحه اول مقاله
چکیده انگلیسی
Examples from studies of oxides-based thin-layers heterostructures will illustrate these methods. In particular, X-ray scattering studies performed on high-k HfO2 and SrZrO3 thin-layers, a (GaAs/AlOx) waveguide, and a ZnO thin-layer are reported.
ناشر
Database: Elsevier - ScienceDirect (ساینس دایرکت)
Journal: Thin Solid Films - Volume 515, Issue 16, 4 June 2007, Pages 6360-6367
Journal: Thin Solid Films - Volume 515, Issue 16, 4 June 2007, Pages 6360-6367
نویسندگان
O. Durand, D. Rogers, F. Hosseini Teherani, M. Andrieux, M. Modreanu,