کد مقاله کد نشریه سال انتشار مقاله انگلیسی نسخه تمام متن
1675509 1008980 2007 8 صفحه PDF دانلود رایگان
عنوان انگلیسی مقاله ISI
Studies of oxide-based thin-layered heterostructures by X-ray scattering methods
موضوعات مرتبط
مهندسی و علوم پایه مهندسی مواد فناوری نانو (نانو تکنولوژی)
پیش نمایش صفحه اول مقاله
Studies of oxide-based thin-layered heterostructures by X-ray scattering methods
چکیده انگلیسی
Examples from studies of oxides-based thin-layers heterostructures will illustrate these methods. In particular, X-ray scattering studies performed on high-k HfO2 and SrZrO3 thin-layers, a (GaAs/AlOx) waveguide, and a ZnO thin-layer are reported.
ناشر
Database: Elsevier - ScienceDirect (ساینس دایرکت)
Journal: Thin Solid Films - Volume 515, Issue 16, 4 June 2007, Pages 6360-6367
نویسندگان
, , , , ,