کد مقاله | کد نشریه | سال انتشار | مقاله انگلیسی | نسخه تمام متن |
---|---|---|---|---|
1675594 | 1008982 | 2006 | 4 صفحه PDF | دانلود رایگان |
عنوان انگلیسی مقاله ISI
Structure evolution of the biaxial alignment in sputter-deposited MgO and Cr
دانلود مقاله + سفارش ترجمه
دانلود مقاله ISI انگلیسی
رایگان برای ایرانیان
کلمات کلیدی
موضوعات مرتبط
مهندسی و علوم پایه
مهندسی مواد
فناوری نانو (نانو تکنولوژی)
پیش نمایش صفحه اول مقاله
چکیده انگلیسی
A comparison between biaxially aligned MgO and Cr concerning the microstructure and crystallographic texture is discussed. A correlation between the sputter deposition parameters on the biaxial alignment of both materials is observed. Both materials have a columnar V-shape structure with a faceted surface, corresponding to zone T of the well known structure zone model of Thornton. The MgO layers exhibit a [111] out-of-plane orientation, while Cr layers have an [100] preferential orientation. MgO as well as Cr show a strong in-plane alignment.
ناشر
Database: Elsevier - ScienceDirect (ساینس دایرکت)
Journal: Thin Solid Films - Volume 515, Issue 2, 25 October 2006, Pages 485-488
Journal: Thin Solid Films - Volume 515, Issue 2, 25 October 2006, Pages 485-488
نویسندگان
P. Ghekiere, S. Mahieu, R. De Gryse, D. Depla,