کد مقاله | کد نشریه | سال انتشار | مقاله انگلیسی | نسخه تمام متن |
---|---|---|---|---|
1676246 | 1518095 | 2006 | 6 صفحه PDF | دانلود رایگان |
عنوان انگلیسی مقاله ISI
Atom probe characterization of nanomagnetic materials
دانلود مقاله + سفارش ترجمه
دانلود مقاله ISI انگلیسی
رایگان برای ایرانیان
کلمات کلیدی
موضوعات مرتبط
مهندسی و علوم پایه
مهندسی مواد
فناوری نانو (نانو تکنولوژی)
پیش نمایش صفحه اول مقاله
چکیده انگلیسی
Improvements in the properties of nanoscale devices based on giant magnetoresistance or tunnel magnetoresistance depend on the capabilities of researchers to design, fabricate, and test such devices. Optimization of these capabilities is intimately tied to the feedback provided by the quality and quantity of available microscopic characterization. The current work presents examples of the use of atom probe tomography in order to obtain microstructural characterization for a variety of nanomagnetic thin film devices including multilayers, spin valves and tunnel barriers.
ناشر
Database: Elsevier - ScienceDirect (ساینس دایرکت)
Journal: Thin Solid Films - Volume 505, Issues 1–2, 18 May 2006, Pages 16–21
Journal: Thin Solid Films - Volume 505, Issues 1–2, 18 May 2006, Pages 16–21
نویسندگان
D.J. Larson,