کد مقاله | کد نشریه | سال انتشار | مقاله انگلیسی | نسخه تمام متن |
---|---|---|---|---|
8034100 | 1518020 | 2015 | 5 صفحه PDF | دانلود رایگان |
عنوان انگلیسی مقاله ISI
Electrical analysis of niobium oxide thin films
ترجمه فارسی عنوان
تجزیه و تحلیل الکتریکی از فیلم های نازک اکسید نایوبیوم
دانلود مقاله + سفارش ترجمه
دانلود مقاله ISI انگلیسی
رایگان برای ایرانیان
کلمات کلیدی
اکسید نیوبیوم، فیلم نازک، خواص سازه، خواص الکتریکی،
موضوعات مرتبط
مهندسی و علوم پایه
مهندسی مواد
فناوری نانو (نانو تکنولوژی)
چکیده انگلیسی
The dielectric constant for the film samples with thickness (d) lower than 650Â nm decreases with the decrease of d. The same behaviour was observed for the conductivity. These results show a dependence of the dielectric permittivity with the thin film thickness. The electrical behaviour was also related with the oxygen partial pressure, whose increment promotes an increase of the Nb2O5 stoichiometry units.
ناشر
Database: Elsevier - ScienceDirect (ساینس دایرکت)
Journal: Thin Solid Films - Volume 585, 30 June 2015, Pages 95-99
Journal: Thin Solid Films - Volume 585, 30 June 2015, Pages 95-99
نویسندگان
M.P.F. Graça, M. Saraiva, F.N.A. Freire, M.A. Valente, L.C. Costa,