A1 پراش اشعه ایکس با وضوح بالا

در این صفحه تعداد 62 مقاله تخصصی درباره A1 پراش اشعه ایکس با وضوح بالا که در نشریه های معتبر علمی و پایگاه ساینس دایرکت (Science Direct) منتشر شده، نمایش داده شده است. برخی از این مقالات، پیش تر به زبان فارسی ترجمه شده اند که با مراجعه به هر یک از آنها، می توانید متن کامل مقاله انگلیسی همراه با ترجمه فارسی آن را دریافت فرمایید.
در صورتی که مقاله مورد نظر شما هنوز به فارسی ترجمه نشده باشد، مترجمان با تجربه ما آمادگی دارند آن را در اسرع وقت برای شما ترجمه نمایند.
مقالات ISI A1 پراش اشعه ایکس با وضوح بالا (ترجمه نشده)
مقالات زیر هنوز به فارسی ترجمه نشده اند.
در صورتی که به ترجمه آماده هر یک از مقالات زیر نیاز داشته باشید، می توانید سفارش دهید تا مترجمان با تجربه این مجموعه در اسرع وقت آن را برای شما ترجمه نمایند.
Elsevier - ScienceDirect - الزویر - ساینس دایرکت
Keywords: A1 پراش اشعه ایکس با وضوح بالا; A1. Defects; A1. Etching; A1. High-resolution X-ray diffraction; A1. Impurities; A2. Growth from solutions; A2. Single crystal growth;
Elsevier - ScienceDirect - الزویر - ساینس دایرکت
Keywords: A1 پراش اشعه ایکس با وضوح بالا; 68.37.Hk; 68.55.ag; 68.55.jm; 81.15.Gh; A1. High-resolution X-ray diffraction; A2. Metal-organic chemical vapour deposition; B1. Oxides; B1. Zinc compounds; B2. Semiconducting II-VI materials;
Elsevier - ScienceDirect - الزویر - ساینس دایرکت
Keywords: A1 پراش اشعه ایکس با وضوح بالا; 81.15.Gh; 07.79.Lh; 61.10.Nz; 78.66.Fd; 78.40.FyA1. Crystal morphology; A1. Atomic force microscopy; A1. High-resolution X-ray diffraction; A2. Metalorganic vapor phase epitaxy; B2. Semiconducting III–V materials
Elsevier - ScienceDirect - الزویر - ساینس دایرکت
Keywords: A1 پراش اشعه ایکس با وضوح بالا; 07.79.Lh; 81.15.Hi; 73.40.−CA1. Atomic force microscopy; A1. High-resolution X-ray diffraction; A3. Molecular beam epitaxy; B1. Nitrides; B3. Heterojunction semiconductor devices
Elsevier - ScienceDirect - الزویر - ساینس دایرکت
Keywords: A1 پراش اشعه ایکس با وضوح بالا; 78.30.−j; 63.20.−e; 63.20.Pw; 81.15.KkA1. Compositional analysis; A1. High-resolution X-ray diffraction; A3. MOVPE; B1. GaAsN alloys; B1. III–V-nitrides; B2. Semiconducting ternary compounds
Elsevier - ScienceDirect - الزویر - ساینس دایرکت
Keywords: A1 پراش اشعه ایکس با وضوح بالا; 81.05.Ea; 81.15.Gh; 68.55.−aA1. Crystal morphology; A1. High-resolution X-ray diffraction; A3. Low-pressure metal-organic vapor-phase epitaxy; B1. Nitrides; B2. Aluminum nitrides; B2. Semiconductor aluminum compounds
Elsevier - ScienceDirect - الزویر - ساینس دایرکت
Keywords: A1 پراش اشعه ایکس با وضوح بالا; 61.10.-i; 68.35.Ct; 68.65.+g; 81.05.Ea; 81.15.Hi; A1. Heterointerfaces; A1. High-resolution X-ray diffraction; A1. In surface segregation; A3. MBE; A3. Superlattices; B1. GaAs; B2. InGaAs; B2. (n11)A GaAs substrates;
Elsevier - ScienceDirect - الزویر - ساینس دایرکت
Keywords: A1 پراش اشعه ایکس با وضوح بالا; 81.10.−h; 61.10.Nz; 74.25.Gz; 42.65.−k; 67.80.GbA1. Characterization; A1. High-resolution X-ray diffraction; A1. Needle morphology; A1. Optical properties; A2. Growth from solutions; B2. Nonlinear optics
Elsevier - ScienceDirect - الزویر - ساینس دایرکت
Keywords: A1 پراش اشعه ایکس با وضوح بالا; A1. High-resolution X-ray diffraction; A1. Substrates; A3. Metalorganic chemical vapor deposition; B2. Semiconducting gallium compounds; B2. Semiconducting III-V materials; B2. Semiconducting aluminum compounds;
Elsevier - ScienceDirect - الزویر - ساینس دایرکت
Keywords: A1 پراش اشعه ایکس با وضوح بالا; 61.10.−i; 68.55.−a; 78.30.−j; 78.55.Cr; 81.15.Hi; A1. Atomic force microscope; A1. High-resolution X-ray diffraction; A1. Nucleation; A1. Raman scattering; A3. Molecular beam epitaxy; B1. Antimonides;
Elsevier - ScienceDirect - الزویر - ساینس دایرکت
Keywords: A1 پراش اشعه ایکس با وضوح بالا; 61.10.Nz; 68.55.Jk; 78.67.−n; 79.60.Jv; 81.07.Bc; 81.15.Gh; A1. High-resolution X-ray diffraction; A3. Metalorganic chemical vapor deposition; B1. Zinc oxide; B2. Semiconducting II-VI materials; B3. Light emitting diodes;
Elsevier - ScienceDirect - الزویر - ساینس دایرکت
Keywords: A1 پراش اشعه ایکس با وضوح بالا; 61.10.−i; 61.72.Ff; 68.55.−a; 75.50.Dd; 81.15.Fg; A1. Defects; A1. High-resolution X-ray diffraction; A1. X-ray topography; A3. Pulsed laser deposition; B1. Zinc oxide; B2. Magnetic materials;