کد مقاله کد نشریه سال انتشار مقاله انگلیسی نسخه تمام متن
10670411 1008866 2011 7 صفحه PDF دانلود رایگان
عنوان انگلیسی مقاله ISI
Expanded beam (macro-imaging) ellipsometry
موضوعات مرتبط
مهندسی و علوم پایه مهندسی مواد فناوری نانو (نانو تکنولوژی)
پیش نمایش صفحه اول مقاله
Expanded beam (macro-imaging) ellipsometry
چکیده انگلیسی
The method can be used for mapping and quality control in the case of large area solar cell table production lines even in a vacuum chamber with 5-10 mm lateral resolution.
ناشر
Database: Elsevier - ScienceDirect (ساینس دایرکت)
Journal: Thin Solid Films - Volume 519, Issue 9, 28 February 2011, Pages 2730-2736
نویسندگان
, , , , , , ,