کد مقاله کد نشریه سال انتشار مقاله انگلیسی نسخه تمام متن
1666764 1518075 2013 5 صفحه PDF دانلود رایگان
عنوان انگلیسی مقاله ISI
Dependences of microstructure and critical current density on the thickness of YBa2Cu3O7-x film prepared by pulsed laser deposition on buffered Ni-W tape
موضوعات مرتبط
مهندسی و علوم پایه مهندسی مواد فناوری نانو (نانو تکنولوژی)
پیش نمایش صفحه اول مقاله
Dependences of microstructure and critical current density on the thickness of YBa2Cu3O7-x film prepared by pulsed laser deposition on buffered Ni-W tape
چکیده انگلیسی
► YBa2Cu3O7 − x (YBCO) films with different thicknesses were grown on metallic tapes. ► The texture and critical current were dependent on the thickness of YBCO film. ► Thickness effect was weakened by fabricating YBCO film layer by layer.
ناشر
Database: Elsevier - ScienceDirect (ساینس دایرکت)
Journal: Thin Solid Films - Volume 529, 1 February 2013, Pages 10-14
نویسندگان
, , , ,