کد مقاله | کد نشریه | سال انتشار | مقاله انگلیسی | نسخه تمام متن |
---|---|---|---|---|
1667547 | 1008852 | 2012 | 6 صفحه PDF | دانلود رایگان |
عنوان انگلیسی مقاله ISI
The implant-free quantum well field-effect transistor: Harnessing the power of heterostructures
دانلود مقاله + سفارش ترجمه
دانلود مقاله ISI انگلیسی
رایگان برای ایرانیان
موضوعات مرتبط
مهندسی و علوم پایه
مهندسی مواد
فناوری نانو (نانو تکنولوژی)
پیش نمایش صفحه اول مقاله

چکیده انگلیسی
The Implant-Free Quantum Well Field-Effect Transistor (FET) offers enhanced scalability in a planar architecture through the integration of heterostructures. The Implant-Free architecture fully utilizes the band offsets between different materials, whereby charge carriers are effectively confined to a thin channel layer. This prevents sub-surface source/drain leakage observed in classical bulk Metal-Oxide-Semiconductor FETs at small gate lengths. An investigation of the VT-tuning capabilities of this technology reveals sensitivity to both well doping and bulk voltage.
ناشر
Database: Elsevier - ScienceDirect (ساینس دایرکت)
Journal: Thin Solid Films - Volume 520, Issue 8, 1 February 2012, Pages 3326–3331
Journal: Thin Solid Films - Volume 520, Issue 8, 1 February 2012, Pages 3326–3331
نویسندگان
Geert Hellings, Andriy Hikavyy, Jerome Mitard, Liesbeth Witters, Brahim Benbakhti, AliReza Alian, Niamh Waldron, Hugo Bender, Geert Eneman, Raymond Krom, Andreas Schulze, Wilfried Vandervorst, Roger Loo, Marc Heyns, Marc Meuris, Thomas Hoffmann,