![این مقاله در پایگاه ساینس دایرکت منتشر شده است Elsevier - ScienceDirect - الزویر - ساینس دایرکت](/assets/img/Elsevier-Logo.png)
Simulation studies of current transport in metal–insulator–semiconductor Schottky barrier diodes
Keywords: ارتفاع مانع; 73.30.+y; 73.40.Ns; 73.40.QvSchottky diodes; Metal–insulator–semiconductor Schottky diodes; Numerical simulation; Barrier height; Current–voltage characteristics; Interfacial layer