![این مقاله در پایگاه ساینس دایرکت منتشر شده است Elsevier - ScienceDirect - الزویر - ساینس دایرکت](/assets/img/Elsevier-Logo.png)
Effects of Ti-doped concentration on the microstructures and optical properties of ZnO thin films
Keywords: اسپکترومغناطیسی مغناطیسی RF; ZnO:Ti thin films; RF magnetron sputtering; X-ray diffraction; Optical properties