کد مقاله | کد نشریه | سال انتشار | مقاله انگلیسی | نسخه تمام متن |
---|---|---|---|---|
1673465 | 1008948 | 2008 | 5 صفحه PDF | دانلود رایگان |
عنوان انگلیسی مقاله ISI
Dielectric and microstructural properties of barium titanate hafnate thin films
دانلود مقاله + سفارش ترجمه
دانلود مقاله ISI انگلیسی
رایگان برای ایرانیان
کلمات کلیدی
موضوعات مرتبط
مهندسی و علوم پایه
مهندسی مواد
فناوری نانو (نانو تکنولوژی)
پیش نمایش صفحه اول مقاله

چکیده انگلیسی
Barium titanate hafnate (BaTi1−xHfxO3, 0 ≤ x ≤ 0.25) thin films have been deposited by a chemical solution method on copper foil substrates. The films were crystallized at 900 °C and in a reducing atmosphere to prevent substrate oxidation. Perovskite phase formation was identified for each composition, accompanied by an increased pseudocubic lattice parameter. Temperature dependent dielectric measurements revealed a decreasing phase transition temperature and peak permittivity with increasing hafnium level. The decrease in permittivity resulted from grain size reduction with increasing hafnium content. Compositions containing 25 mol% barium hafnate display a deviation from Curie–Weiss behavior indicating the onset of relaxor behavior.
ناشر
Database: Elsevier - ScienceDirect (ساینس دایرکت)
Journal: Thin Solid Films - Volume 516, Issue 10, 31 March 2008, Pages 3162–3166
Journal: Thin Solid Films - Volume 516, Issue 10, 31 March 2008, Pages 3162–3166
نویسندگان
Jon F. Ihlefeld, William J. Borland, Jon-Paul Maria,