کد مقاله | کد نشریه | سال انتشار | مقاله انگلیسی | نسخه تمام متن |
---|---|---|---|---|
8037151 | 1518073 | 2013 | 8 صفحه PDF | دانلود رایگان |
عنوان انگلیسی مقاله ISI
Modifications of reactively sputtered titanium nitride films by argon and vanadium ion implantation: Microstructural and opto-electric properties
ترجمه فارسی عنوان
تغییرات فیلم های نیترید تیتانیوم واکنش پذیر اسپکترومتری توسط ایمون های آرگون و وانادیوم: خواص میکرو سازه و اپتو الکتریکی
دانلود مقاله + سفارش ترجمه
دانلود مقاله ISI انگلیسی
رایگان برای ایرانیان
کلمات کلیدی
نیترید تیتانیوم، پوشش های سخت، پرتقال، اشعه، میکروسکوپ الکترونی انتقال، طیف سنجی برگشت رادرفورد، پراش اشعه ایکس، طیف سنجی مادون قرمز،
Sputtering - اسپری کردنIrradiation - اشعه یا تابشtitanium nitride - تیتانیوم نیتریدRutherford backscattering spectroscopy - طیف سنجی برگشت رادرفوردInfrared spectroscopy - طیف سنجی مادون قرمزTransmission electron microscopy - میکروسکوپ الکترونی عبوریX-ray diffraction - پراش اشعه ایکسHard coatings - پوشش های سخت
موضوعات مرتبط
مهندسی و علوم پایه
مهندسی مواد
فناوری نانو (نانو تکنولوژی)
چکیده انگلیسی
⺠Distinguishing between chemical and purely defect-related implantation effects ⺠Layer geometry and microstructure of the deposited and ion-irradiated layers ⺠Variation of the electric and optical resistivity as function of ion fluence and type ⺠Opto-electric properties in terms of plasma energy and electron relaxation time
ناشر
Database: Elsevier - ScienceDirect (ساینس دایرکت)
Journal: Thin Solid Films - Volume 531, 15 March 2013, Pages 189-196
Journal: Thin Solid Films - Volume 531, 15 March 2013, Pages 189-196
نویسندگان
M. PopoviÄ, M. NovakoviÄ, A. Traverse, K. Zhang, N. BibiÄ, H. Hofsäss, K.P. Lieb,