![این مقاله در پایگاه ساینس دایرکت منتشر شده است Elsevier - ScienceDirect - الزویر - ساینس دایرکت](/assets/img/Elsevier-Logo.png)
Density of states in the gap of microcrystalline silicon determined from thermally-stimulated currents
Keywords: سیلیکون میکرو کریستالی; Microcrystalline silicon; Thermally-stimulated currents; Defect; Electrical and electronic properties