![این مقاله در پایگاه ساینس دایرکت منتشر شده است Elsevier - ScienceDirect - الزویر - ساینس دایرکت](/assets/img/Elsevier-Logo.png)
The microstructure and optical properties of p-type microcrystalline silicon thin films characterized by ex-situ spectroscopic ellipsometry
Keywords: سیلیکون میکرو کریستالی; Spectroscopic ellipsometry; Microcrystalline silicon; Crystalline volume fraction; Gas doping; Optical function