![این مقاله در پایگاه ساینس دایرکت منتشر شده است Elsevier - ScienceDirect - الزویر - ساینس دایرکت](/assets/img/Elsevier-Logo.png)
Electromigration stress induced deformation mechanisms in free-standing platinum thin films
Keywords: الکترو مهاجرت; Electromigration; Transmission electron microscopy; Grain growth; Nanocrystalline microstructure