دانلود مقالات ISI درباره طیف‌بینی فوتوالکترون پرتو ایکس + ترجمه فارسی

یکی از آنالیزهایی که براساس برهمکنش بین پرتوی ایکس و نمونه شکل گرفته است، آنالیز XPS می باشد. XPS یک آنالیز قدرتمند برای ارزیابی سطح نمونه به شمار می رود که اولین بار در سال 1887توسط هرتزو بر مبنای اثر فوتوالکتریک بنا شد واز سال1960 توسط دانشمندانی مانندSiegbahn رشد مضاعف یافت. طیف نگاری فوتوالکترونی اشعه ایکس (XPS)، روش آنالیزی برای بررسی ازنقطه نظر آنالیز عنصری، ترکیب شیمیایی و تعیین حالت پیوندی است. در این روش، سطح نمونه با اشعه ی ایکسِ تک انرژی بمباران می شود و فوتوالکترون های پر انرژی ترِ تولید شده موفق به فرار از ماده می شوند. این فوتوالکترون ها پس از ارسال به تحلیل گر انرژی وتعیین انرژی جنبشی آنها، به آشکارساز هدایت می شوند تا تعداد فوتوالکترون های تولیدی با انرژی جنبشی مشخص شمارش شوند. در نهایت این اطلاعات به صورت تعداد فوتوالکترون هابر حسب انرژی پیوندی رسم می شوند. از آن جایی که انرژی فوتوالکترون های داخلی، مشخصه هر اتم است؛ تعیین عناصر موجود در نمونه، با اندازه گیری انرژی های جنبشی فوتوالکترونهای خارج شده از نمونه، امکان پذیر است. حالت شیمیایی عناصر موجود در نمونه، از انحراف اتم عنصر در انرژی های جنبشی و غلظت های نسبی آن عناصر با توجه به شدت های فوتوالکترونهای مربوط به هر عنصر قابل اندازه گیری است. روش کار: در این روش سطح نمونه توسط پرتو X بمباران شده وشده برای گذر از مسیر نیم کره محاسبه میشود. آشکارساز در انتهای نیم کره قرار دارد و شدت یا جمعیت الکترونها راتعیین میکند. باتوجه به توضیحی که در مورد طیف سنج الکترونی داده شد الگو یا طیفی را که قسمت ثبت کننده دستگاه رسم میکند تغییر شدت برحسب انرژی جنبشی خواهد بود که در آن پیک های مربوط به حضور الکترونهایی که انرژی ویژه دارند دیده میشود. این آنالیز برای ترکیبات غیرآلی، آلیاژهای فلزی، نیمرساناها، پلیمرها،شیشه ها، سرامیک و حتی در صنعت کاغذ، چوب و صنعت بنزین استفاده می­شود شرط اصلی برای انجام آنالیز XPS، وجود خلا فرازیاد درداخل محفظه خلأ می باشد. اجزای تشکیل دهنده طیف نگار فوتوالکترونی اشعه ایکس طیف فوتوالکترون اشعه ایکس: الگو یا طیفی که به وسیله قسمت ثبت کننده دستگاه رسم می‌شود تغییر شدت (تعداد فوتوالکترون) برحسب انرژی جنبشی یا انرژی پیوندی است که درآن پیک‌های مربوط به حضور فوتوالکترون‌هایی که انرژی ویژه دارند؛ مشاهده می‌شود. درآنالیز XPS، پیک های اوژه (اتمی که در اثر تابش اشعه ایکس یا تابش الکترون هایپر انرژی، الکترونِ لایه ی داخلی آن از قید هسته جدا شده است تمایل دارد تا به حالت پایدارتری برسد بنابراین، الکترون از لایه های بالاتر اتم به این لایه ی داخلی منتقل می شود و همراه با این انتقال، انرژی آزاد می شود که می تواند الکترون های بیرونی رااز قید اتم رها کند که این الکترون و پیکی که نماینده انرژی آن است را اوژه نامند) نیز ظاهر می شوند که اگرچه حاوی اطلاعات زیادی اند اما ممکن است که با پیک-های XPS، اشتباه گرفته شوند که برایت مایز آنها از یکدیگر می توان انرژی فوتون فرودی را تغییر داد که با تغییر انرژی فوتون فرودی، محل پیک اوژه تغییر نمی کند اما محل پیک XPS جابه جا می شود که از نظر عملی این کار میسر نیست بنابراین مناسب ترینکار برای تمایز این دو نوع پیک، مقایسه موقعیت پیک ها با موقعیت استاندارد آن هاست.