آشنایی با موضوع

یکی از آنالیزهایی که براساس برهمکنش بین پرتوی ایکس و نمونه شکل گرفته است، آنالیز XPS می باشد. XPS یک آنالیز قدرتمند برای ارزیابی سطح نمونه به شمار می رود که اولین بار در سال 1887توسط هرتزو بر مبنای اثر فوتوالکتریک بنا شد واز سال1960 توسط دانشمندانی مانندSiegbahn رشد مضاعف یافت. طیف نگاری فوتوالکترونی اشعه ایکس (XPS)، روش آنالیزی برای بررسی ازنقطه نظر آنالیز عنصری، ترکیب شیمیایی و تعیین حالت پیوندی است. در این روش، سطح نمونه با اشعه ی ایکسِ تک انرژی بمباران می شود و فوتوالکترون های پر انرژی ترِ تولید شده موفق به فرار از ماده می شوند. این فوتوالکترون ها پس از ارسال به تحلیل گر انرژی وتعیین انرژی جنبشی آنها، به آشکارساز هدایت می شوند تا تعداد فوتوالکترون های تولیدی با انرژی جنبشی مشخص شمارش شوند. در نهایت این اطلاعات به صورت تعداد فوتوالکترون هابر حسب انرژی پیوندی رسم می شوند. از آن جایی که انرژی فوتوالکترون های داخلی، مشخصه هر اتم است؛ تعیین عناصر موجود در نمونه، با اندازه گیری انرژی های جنبشی فوتوالکترونهای خارج شده از نمونه، امکان پذیر است. حالت شیمیایی عناصر موجود در نمونه، از انحراف اتم عنصر در انرژی های جنبشی و غلظت های نسبی آن عناصر با توجه به شدت های فوتوالکترونهای مربوط به هر عنصر قابل اندازه گیری است. روش کار: در این روش سطح نمونه توسط پرتو X بمباران شده وشده برای گذر از مسیر نیم کره محاسبه میشود. آشکارساز در انتهای نیم کره قرار دارد و شدت یا جمعیت الکترونها راتعیین میکند. باتوجه به توضیحی که در مورد طیف سنج الکترونی داده شد الگو یا طیفی را که قسمت ثبت کننده دستگاه رسم میکند تغییر شدت برحسب انرژی جنبشی خواهد بود که در آن پیک های مربوط به حضور الکترونهایی که انرژی ویژه دارند دیده میشود. این آنالیز برای ترکیبات غیرآلی، آلیاژهای فلزی، نیمرساناها، پلیمرها،شیشه ها، سرامیک و حتی در صنعت کاغذ، چوب و صنعت بنزین استفاده می­شود شرط اصلی برای انجام آنالیز XPS، وجود خلا فرازیاد درداخل محفظه خلأ می باشد. اجزای تشکیل دهنده طیف نگار فوتوالکترونی اشعه ایکس طیف فوتوالکترون اشعه ایکس: الگو یا طیفی که به وسیله قسمت ثبت کننده دستگاه رسم می‌شود تغییر شدت (تعداد فوتوالکترون) برحسب انرژی جنبشی یا انرژی پیوندی است که درآن پیک‌های مربوط به حضور فوتوالکترون‌هایی که انرژی ویژه دارند؛ مشاهده می‌شود. درآنالیز XPS، پیک های اوژه (اتمی که در اثر تابش اشعه ایکس یا تابش الکترون هایپر انرژی، الکترونِ لایه ی داخلی آن از قید هسته جدا شده است تمایل دارد تا به حالت پایدارتری برسد بنابراین، الکترون از لایه های بالاتر اتم به این لایه ی داخلی منتقل می شود و همراه با این انتقال، انرژی آزاد می شود که می تواند الکترون های بیرونی رااز قید اتم رها کند که این الکترون و پیکی که نماینده انرژی آن است را اوژه نامند) نیز ظاهر می شوند که اگرچه حاوی اطلاعات زیادی اند اما ممکن است که با پیک-های XPS، اشتباه گرفته شوند که برایت مایز آنها از یکدیگر می توان انرژی فوتون فرودی را تغییر داد که با تغییر انرژی فوتون فرودی، محل پیک اوژه تغییر نمی کند اما محل پیک XPS جابه جا می شود که از نظر عملی این کار میسر نیست بنابراین مناسب ترینکار برای تمایز این دو نوع پیک، مقایسه موقعیت پیک ها با موقعیت استاندارد آن هاست.

در این صفحه تعداد 364 مقاله تخصصی درباره طیف‌بینی فوتوالکترون پرتو ایکس که در نشریه های معتبر علمی و پایگاه ساینس دایرکت (Science Direct) منتشر شده، نمایش داده شده است. برخی از این مقالات، پیش تر به زبان فارسی ترجمه شده اند که با مراجعه به هر یک از آنها، می توانید متن کامل مقاله انگلیسی همراه با ترجمه فارسی آن را دریافت فرمایید.
در صورتی که مقاله مورد نظر شما هنوز به فارسی ترجمه نشده باشد، مترجمان با تجربه ما آمادگی دارند آن را در اسرع وقت برای شما ترجمه نمایند.
مقالات ISI طیف‌بینی فوتوالکترون پرتو ایکس (ترجمه نشده)
مقالات زیر هنوز به فارسی ترجمه نشده اند.
در صورتی که به ترجمه آماده هر یک از مقالات زیر نیاز داشته باشید، می توانید سفارش دهید تا مترجمان با تجربه این مجموعه در اسرع وقت آن را برای شما ترجمه نمایند.
Elsevier - ScienceDirect - الزویر - ساینس دایرکت
Keywords: طیف‌بینی فوتوالکترون پرتو ایکس; clear coat; polyester resin; melamine distribution; Raman spectroscopy; ultra-low-angle microtomy (ULAM); X-ray photoelectron spectroscopy (XPS);
Elsevier - ScienceDirect - الزویر - ساینس دایرکت
Keywords: طیف‌بینی فوتوالکترون پرتو ایکس; Hydrogenated amorphous silicon; Keratinocytes; Fibroblasts; Surface energy; X-ray photoelectron spectroscopy (XPS); Fourier-transform infrared spectrometry (FTIR);
Elsevier - ScienceDirect - الزویر - ساینس دایرکت
Keywords: طیف‌بینی فوتوالکترون پرتو ایکس; X-ray photoelectron spectroscopy (XPS); Radiation side effects; Cultural heritage; Pigments; Egg-yolk tempera; Degradation of painting materials;
Elsevier - ScienceDirect - الزویر - ساینس دایرکت
Keywords: طیف‌بینی فوتوالکترون پرتو ایکس; Biochar; Steam activation; Mild air oxidation; Boehm titration; Attenuated total reflective Fourier transform infrared spectroscopy (ATR-FTIR); X-ray photoelectron spectroscopy (XPS);
Elsevier - ScienceDirect - الزویر - ساینس دایرکت
Keywords: طیف‌بینی فوتوالکترون پرتو ایکس; Oil sediments; Electrokinetic; Wettability alteration; Thermogravimetric analysis; X-ray photoelectron spectroscopy (XPS);
Elsevier - ScienceDirect - الزویر - ساینس دایرکت
Keywords: طیف‌بینی فوتوالکترون پرتو ایکس; Highly oriented pyrolytic graphite (HOPG); Talc; Hydrophobic interactions; Tapping mode atomic force microscopy (TMAFM); X-ray photoelectron spectroscopy (XPS); Micro-flotation;
Elsevier - ScienceDirect - الزویر - ساینس دایرکت
Keywords: طیف‌بینی فوتوالکترون پرتو ایکس; Glass fibers; Electrical properties; Infrared (IR) spectroscopy; X-ray Photoelectron Spectroscopy (XPS); Scanning electron microscopy (SEM); Thermogravimetric analysis (TGA);
Elsevier - ScienceDirect - الزویر - ساینس دایرکت
Keywords: طیف‌بینی فوتوالکترون پرتو ایکس; Iron oxyhydroxide/oxide electrocatalyst; Electrodeposition method; Water splitting; Linear sweep voltammetry (LSV); X-ray photoelectron spectroscopy (XPS);
Elsevier - ScienceDirect - الزویر - ساینس دایرکت
Keywords: طیف‌بینی فوتوالکترون پرتو ایکس; Stress corrosion cracking (SCC); High-temperature water; Zn injection; X-ray photoelectron spectroscopy (XPS); Energy dispersive X-ray spectroscopy (EDS);
Elsevier - ScienceDirect - الزویر - ساینس دایرکت
Keywords: طیف‌بینی فوتوالکترون پرتو ایکس; Parahydrogen-induced polarization (PHIP); Hydrogenation; Heterogeneous catalysis; X-ray photoelectron spectroscopy (XPS); Transmission electron microscopy (TEM);
Elsevier - ScienceDirect - الزویر - ساینس دایرکت
Keywords: طیف‌بینی فوتوالکترون پرتو ایکس; Post-coating treatment; Nitrogen implantation; Chromium nitrides; X-ray photoelectron spectroscopy (XPS); Tribology;
Elsevier - ScienceDirect - الزویر - ساینس دایرکت
Keywords: طیف‌بینی فوتوالکترون پرتو ایکس; Preindustrial charcoal kiln; Land-use change; Biochar; X-ray photoelectron spectroscopy (XPS); Differential scanning calorimetry (DSC); Fourier Transform Infrared Spectroscopy (FTIR); 13C nuclear magnetic resonance (13C NMR); Dichromate oxidation;
Elsevier - ScienceDirect - الزویر - ساینس دایرکت
Keywords: طیف‌بینی فوتوالکترون پرتو ایکس; AFM; atomic force microscopy; BET; Brunauer-Emmett-Teller; BINAP; (2,2′-bis(diphenylphosphino)-1,1′-binaphthyl); CB; carbon black; CDC; cross-dehydrogenative coupling; CN-DSCS; copper nanoparticle-doped silica cuprous sulfate; CNS; central nervous
Elsevier - ScienceDirect - الزویر - ساینس دایرکت
Keywords: طیف‌بینی فوتوالکترون پرتو ایکس; Atomic layer deposition (ALD); X-ray photoelectron spectroscopy (XPS); Transition metal silicides; Semiconductors; Surface modification
Elsevier - ScienceDirect - الزویر - ساینس دایرکت
Keywords: طیف‌بینی فوتوالکترون پرتو ایکس; Self-assembled monolayer (SAM); Thiols; Quartz Crystal Microbalance with Dissipation (QCM-D); Atomic force microscopy (AFM); X-ray Photoelectron Spectroscopy (XPS);
Elsevier - ScienceDirect - الزویر - ساینس دایرکت
Keywords: طیف‌بینی فوتوالکترون پرتو ایکس; Auger electron spectroscopy (AES); X-ray photoelectron spectroscopy (XPS); Electron beam damage; Lithium metal; Solid-electrolyte-interphase (SEI); Lithium dendrites;
Elsevier - ScienceDirect - الزویر - ساینس دایرکت
Keywords: طیف‌بینی فوتوالکترون پرتو ایکس; Carbon film; Atomic structure; Sliding contact; Micro-Raman spectroscopy; X-ray photoelectron spectroscopy (XPS); Nanoscratch
Elsevier - ScienceDirect - الزویر - ساینس دایرکت
Keywords: طیف‌بینی فوتوالکترون پرتو ایکس; Strontium substituted hydroxyapatite; RF magnetron sputtering; Co-deposition; X-Ray Photoelectron Spectroscopy (XPS); X-Ray Diffraction (XRD);
Elsevier - ScienceDirect - الزویر - ساینس دایرکت
Keywords: طیف‌بینی فوتوالکترون پرتو ایکس; Asbestos; Tremolite; Alteration mechanism; Surface chemistry; X-ray photoelectron spectroscopy (XPS); High-resolution transmission electron microscopy (HR-TEM)
Elsevier - ScienceDirect - الزویر - ساینس دایرکت
Keywords: طیف‌بینی فوتوالکترون پرتو ایکس; Polypyrrole; Graphene oxide; Conducting fabric; X-ray photoelectron spectroscopy (XPS); Scanning electrochemical microscopy (SECM); Electrochemical impedance spectroscopy (EIS)
Elsevier - ScienceDirect - الزویر - ساینس دایرکت
Keywords: طیف‌بینی فوتوالکترون پرتو ایکس; Poly (lactic acid) fabrics; Pigment printing; X-ray Photoelectron Spectroscopy (XPS); Burst strength; Colour fastness; Scanning electron microscopy (SEM)
Elsevier - ScienceDirect - الزویر - ساینس دایرکت
Keywords: طیف‌بینی فوتوالکترون پرتو ایکس; Steel; Crystalline oxides; Amorphous oxides; Transmission electron microscopy (TEM); X-ray photoelectron spectroscopy (XPS);
Elsevier - ScienceDirect - الزویر - ساینس دایرکت
Keywords: طیف‌بینی فوتوالکترون پرتو ایکس; Soft magnetic composites (SMC); Powder metallurgy (PM); Insulating surface coatings; Depth profiling; X-ray photoelectron spectroscopy (XPS);
Elsevier - ScienceDirect - الزویر - ساینس دایرکت
Keywords: طیف‌بینی فوتوالکترون پرتو ایکس; Langmuir-Blodgett; Monolayers; Halogen-terminated fatty acid; Equilibrium spreading pressure; X-ray photoelectron spectroscopy (XPS);
Elsevier - ScienceDirect - الزویر - ساینس دایرکت
Keywords: طیف‌بینی فوتوالکترون پرتو ایکس; Phytic acid (PA); Iron; Corrosion inhibition; Electrochemical Impedance Spectroscopy (EIS); X-ray Photoelectron Spectroscopy (XPS);
Elsevier - ScienceDirect - الزویر - ساینس دایرکت
Keywords: طیف‌بینی فوتوالکترون پرتو ایکس; Sludge-based activated carbon (SAC); Ammonization; Pore structure; Nitrogen functional group; X-ray photoelectron spectroscopy (XPS);
Elsevier - ScienceDirect - الزویر - ساینس دایرکت
Keywords: طیف‌بینی فوتوالکترون پرتو ایکس; Sodium caseinate; Maltodextrin; Soya oil; Emulsion; X-ray Photoelectron Spectroscopy (XPS); Electron Spectroscopy for Chemical Analysis (ESCA);
Elsevier - ScienceDirect - الزویر - ساینس دایرکت
Keywords: طیف‌بینی فوتوالکترون پرتو ایکس; Bismuth ferrite (BFO); X-ray photoelectron spectroscopy (XPS); Piezoresponse force microscopy (PFM); Surface functionalization; Metalorganic chemical vapor deposition (MOCVD);