![این مقاله در پایگاه ساینس دایرکت منتشر شده است Elsevier - ScienceDirect - الزویر - ساینس دایرکت](/assets/img/Elsevier-Logo.png)
Investigation of the magnetic field angle dependence of resistance, irreversibility field, upper critical field and critical current density in DC sputtered Bi-2223 thin film
Keywords: مقاومت مغناطیسی; Bi-2223 superconductors; Thin films; Anisotropy; Magnetoresistance; High magnetic fields; Scanning electron microscopy