![این مقاله در پایگاه ساینس دایرکت منتشر شده است Elsevier - ScienceDirect - الزویر - ساینس دایرکت](/assets/img/Elsevier-Logo.png)
Modeling the degradation/recovery of short-circuit current density in perovskite and thin film photovoltaics
Keywords: پروسکایت; Modeling; Degradation; Recovery; Short-circuit current density; Time-dependent; Thin films; Perovskite; Solar cell;