آشنایی با موضوع

طیف نگاری فلوئورسانس اشعه ایکس، (XRF=X-ray Fluorescence Spectroscopy) ، از روش های آنالیز عنصری است که به دلیل سرعت بالای آنالیز در بعضی از صنایع دارای اهمیت است. در این روش، اشعه ایکس به نمونه می تابد و در اثر برانگیختن اتم ها و انتقال الکترونی در لایه های مختلفِ اتم، اشعه ایکس ثانویه، تولید می شود که با تعیین طول موج (انرژی) اشعه ایکس ثانویه که مشخصه اتم است؛ می توان عناصر موجود در نمونه مورد نظر را شناسایی کرد. با استفاده از این تکنیک، می توان آنالیز عنصری را به ‌صورت کیفی و تا حدودی کمی به خصوص در مورد نمونه های معدنی، باستانی، زمین‌شناسی، کانی‌ها، سنگ‌ها، شیشه، سیمان، سرامیک‌ها و آلیاژهای فلزی انجام داد که رد یابی عناصر از سدیم تا اورانیوم را ممکن می سازد که دقت آن برای عناصر سنگین بیشتر است. اساس کار طیف سنجی فلورسانس پرتو ایکس پرتو خروجی از لوله پدید آورنده پرتو ایکس به نمونه می‌ تابد و در اثر بمباران، الکترون‌ های موجود در مدار های داخلی اتم خارج شده و جایگزینی این الکترون‌ ها از مدارهای بالایی، سبب پدید آمدن پرتو ایکس مشخصه خواهد شد. اساس این پدیده، مانند حالتی است که نمونه، توسط الکترون بمباران می‌ شود. نحوه ایجاد پرتو ایکس مشخصه طیف سنجی فلورسانس پرتو ایکس به دو نوع WDS و EDS تقسیم بندی می شود. در روش WDS پرتوی ایکس خروجی از نمونه مجهول، پیش از ورود به آشکار ساز، توسط یک بلور تفکیک می شود. در روش EDS پرتو خروجی از نمونه بدون آنکه توسط بلور آنالیز کننده تفکیک شود، وارد آشکارساز می شود. تفاوت اصلی دو روش EDS و WDS به سرعت، دقت، قدرت تفکیک این دو روش مربوط است. اجزای دستگاه طیف سنج فلورسانس پرتوی ایکس لوله پدیدآورنده پرتو ایکس: در دستگاه‌ های مختلف طیف سنج فلورسانس پرتو ایکس، از لوله‌ های گوناگونی استفاده می‌ شود. تفاوت آن‌ ها در توان استفاده شده در لوله، محل قرار گرفتن پنجره برلیمی و نوع سرمایش است. پنجره خروجی می‌تواند در دیواره کناری و یا در انتهای لوله قرار داشته باشد. در این نوع لوله، آند به صورت یک لایه نازک بر روی پنجره برلیومی قرار دارد. جنس آند در دستگاه طیف سنج فلورسانس پرتو ایکس به طور معمول فلز کروم، مولیبدن، رنیوم یا تنگستن است. وظیفه لوله پرتو ایکس، پدید آوردن پرتویی با شدت زیاد برای برانگیختگی همه عنصر های موجود در نمونه مجهول است. به عبارت دیگر، طیف پرتو خروجی از لوله، باید طول موج کمتری از لبه جذب عنصر های موجود در نمونه مجهول داشته باشد. بلور آنالیز کننده: بلور فلورید سدیم (NiF) بیشترین کاربرد را در دستگاه‌ های دستگاه طیف سنج فلورسانس پرتو ایکس دارد. این بلور را می‌ توان با صفحه‌ های (220) و (200) استفاده کرد. این بلور برای شناسایی عنصر های پتاسیم تا اورانیم به کار می‌ رود. از بلور ژرمانیم نیز برای شناسایی عنصرهای فسفر تا کلر استفاده می‌کنند. برای این منظور صفحه‌های (111) این بلور مورد توجه‌ اند. مواد دیگری که به عنوان بلور آنالیز کننده، در دستگاه XRF استفاده می‌شوند، برخی از ترکیب‌ های پلیمری هستند که به ویژه برای شناسایی عنصر های سبک مفیدترند. امروزه در دستگاه‌ های XRF، برای پرهیز از جابه‌جایی پیوسته بلور های آنالیز کننده، آن‌ ها را روی یک منشور چند وجهی مطابق شکل زیر سوار می‌کنند و بدین ترتیب با چرخاندن منشور، بلور مورد نظر به راحتی در برابر پرتو ایکس قرار می‌گیرد. کاربرد اصلی دستگاه XRF در صنایعی مانند فولاد و سیمان است. در این صنایع، تغییر مقدار عنصر های موجود در نمونه، در گستره کوچک و مشخصی است و دوم آن که نیازمند سرعت زیاد آنالیز برای تصمیم‌ گیری در تنظیم ترکیب هستند. محدود بودن عنصر های موجود در نمونه مجهول و گستره تغییر آن‌ها، امکان استفاده از منحنی‌ های کالیبراسیون را با اطمینان به وجود می‌ آورد. بدیهی است که در این نوع صنایع، دستگاه همزمان بیشتر مورد توجه باشد.
در این صفحه تعداد 483 مقاله تخصصی درباره طیف نگاری فلوئورسانس اشعه ایکس که در نشریه های معتبر علمی و پایگاه ساینس دایرکت (Science Direct) منتشر شده، نمایش داده شده است. برخی از این مقالات، پیش تر به زبان فارسی ترجمه شده اند که با مراجعه به هر یک از آنها، می توانید متن کامل مقاله انگلیسی همراه با ترجمه فارسی آن را دریافت فرمایید.
در صورتی که مقاله مورد نظر شما هنوز به فارسی ترجمه نشده باشد، مترجمان با تجربه ما آمادگی دارند آن را در اسرع وقت برای شما ترجمه نمایند.
مقالات ISI طیف نگاری فلوئورسانس اشعه ایکس (ترجمه نشده)
مقالات زیر هنوز به فارسی ترجمه نشده اند.
در صورتی که به ترجمه آماده هر یک از مقالات زیر نیاز داشته باشید، می توانید سفارش دهید تا مترجمان با تجربه این مجموعه در اسرع وقت آن را برای شما ترجمه نمایند.
Elsevier - ScienceDirect - الزویر - ساینس دایرکت
Keywords: طیف نگاری فلوئورسانس اشعه ایکس; ANN; artificial neural networks; BTEX; benzene, toluene, ethylbenzene, and xylenes; EC; electric conductivity; EPA; Environmental Protection Agency; GC; gas chromatography; GC-MS; gas chromatography-mass spectrometry; GC-PID; gas chromatography with
Elsevier - ScienceDirect - الزویر - ساینس دایرکت
Keywords: طیف نگاری فلوئورسانس اشعه ایکس; BM; Bending magnet; CT; Computed tomography; EDX; Energy-dispersive X-ray spectroscopy; EELS; Electron energy-loss spectroscopy; FT-IR; Fourier-transform infrared spectroscopy; IBA; Ion beam analysis; LA-ICP-OES/MS; Laser-ablation inductively-coupled plas
Elsevier - ScienceDirect - الزویر - ساینس دایرکت
Keywords: طیف نگاری فلوئورسانس اشعه ایکس; Inner-shell impact ionization; Determinist transport; Monte Carlo simulation; Photon-electron transport; XRF; Characteristic lines;
Elsevier - ScienceDirect - الزویر - ساینس دایرکت
Keywords: طیف نگاری فلوئورسانس اشعه ایکس; Laser induced breakdown spectroscopy; LIBS; X-ray fluorescence spectroscopy; XRF; Scanning electron microscopy/energy dispersive X-ray spectroscopy; SEM/EDX
Elsevier - ScienceDirect - الزویر - ساینس دایرکت
Keywords: طیف نگاری فلوئورسانس اشعه ایکس; ICP; inductively coupled plasma; SI; saturation index; PV; pore volume; XRD; X-ray diffraction; XRF; X-ray fluorescence; WAF; well allocation factor; Scale control; Scale management; Carbonate reservoirs; Scale simulation; Formation damage; Oil field scal
Elsevier - ScienceDirect - الزویر - ساینس دایرکت
Keywords: طیف نگاری فلوئورسانس اشعه ایکس; GFAAS; graphite furnace atomic absorption spectrometry; ICP; inductively coupled plasma spectrometry; MADL; maximum allowable dose level; PTTIL; provisional tolerable total intake level; PTWI; provisional tolerable weekly intake; SEM; scanning electron mi
Elsevier - ScienceDirect - الزویر - ساینس دایرکت
Keywords: طیف نگاری فلوئورسانس اشعه ایکس; ca.; Circa (approximately); DWA; Department of Water Affairs (previously DWAF); DWAF; Department of Water Affairs and Forestry (now DWA); G-HRG; Goudplaats-Hour River Gneiss (Suite); JGD; Johannesburg Granite Dome; KNP; Kruger National Park; Ma; Million y
Elsevier - ScienceDirect - الزویر - ساینس دایرکت
Keywords: طیف نگاری فلوئورسانس اشعه ایکس; X-ray diffraction; X-ray fluorescence; XRD; XRF; Pigments; Cultural heritage; Prehistoric rock art; Cave; In-situ non-destructive analysis; Manganese oxides; Pyrolusite; Romanechite;
Elsevier - ScienceDirect - الزویر - ساینس دایرکت
Keywords: طیف نگاری فلوئورسانس اشعه ایکس; AFM; atomic force microscopy; ASV; anodic stripping voltammetry; CPE-mineral; carbon paste electrode-mineral; CV; cyclic voltammetry; EAC; electron-accepting; EC; electrochemical; EDC; electron-donating; EIS; electrochemical impedance spectroscopy; LSV; l
Elsevier - ScienceDirect - الزویر - ساینس دایرکت
Keywords: طیف نگاری فلوئورسانس اشعه ایکس; Clinker; Cellular concrete; SiO2; Quartz; Fineness; 45 μm; 90 μm; Alite; Free CaO; Burnability; Ant; Antoing; LiqSimple; Liquid Simple; ACC; Autoclaved Cellular Concrete; LOI; Loss On Ignition; ARM; Alternative Raw Material; Lo; Loam (SiO2-source); AR
Elsevier - ScienceDirect - الزویر - ساینس دایرکت
Keywords: طیف نگاری فلوئورسانس اشعه ایکس; AAS; atomic absorption spectrometry; AFS; atomic florescence spectrometry; As; arsenic; AsB; arsenobetaine; AsC; arsenocholine; CRM; certified reference material; DMA; dimethylarsinic acid; ESI-MS; electrospray ionization mass spectrometry; ESI-MS/MS; e
Elsevier - ScienceDirect - الزویر - ساینس دایرکت
Keywords: طیف نگاری فلوئورسانس اشعه ایکس; μ-XANES; micro X-ray absorption near-edge structure; XRF; X-ray fluorescence; μ-XRD; micro X-ray diffraction; STXM; scanning transmission X-ray microscopy; FIB; focused ion beam; TEM; transmission electron microscopy; EDX; energy-dispersive X-ray spectr
Elsevier - ScienceDirect - الزویر - ساینس دایرکت
Keywords: طیف نگاری فلوئورسانس اشعه ایکس; Magdalenian burial; El Mirón Cave; Ochre; Hematite; Thin section; XRD; SEM-EDX; XRF; Raman spectroscopy; ICP-MS; Idiomorphic hematite
Elsevier - ScienceDirect - الزویر - ساینس دایرکت
Keywords: طیف نگاری فلوئورسانس اشعه ایکس; CEC; Cation Exchange Capacity; EDXRF; Energy-Dispersive X-ray Fluorescence; LV; Latent Variable; OM; Organic Matter; PC; Principal Component; PCA; Principal Component Analysis; PLSR; Partial Least Square Regression; RMSEC; Root Mean Square Error of Calibr
Elsevier - ScienceDirect - الزویر - ساینس دایرکت
Keywords: طیف نگاری فلوئورسانس اشعه ایکس; AER-P; anion exchange resin extractable P; CAP; critical available P; CCE; Ca carbonate equivalent; CEC; cation exchange capacity; Feca; Fe soluble in citrate-ascorbate; Fecbd; Fe soluble in citrate-bicarbonate-dithionite; MPLSR; Modified Partial Le
Elsevier - ScienceDirect - الزویر - ساینس دایرکت
Keywords: طیف نگاری فلوئورسانس اشعه ایکس; Waste printed circuit boards; Chemical pretreatment; Br fixation; Pyrolysis; Combustion; WEEE; waste electric and electronic equipment; NMF; non-metallic fractions; BFRs; bromine flame retardants; TBBA; tetrabrombisphenyl-A; PBDD/Fs; poly-brominated diben
Elsevier - ScienceDirect - الزویر - ساینس دایرکت
Keywords: طیف نگاری فلوئورسانس اشعه ایکس; ANOVA; analysis of variance; AP; apple pulp; APC; apple pulp carbon; Co(II); cobalt(II) metal ion; Cu(II); copper(II) metal ion; FT-IR; Fourier transform infrared spectroscopy; pHZPC; point of zero charge analysis; SEM; scanning electron microscope; XRF;
Elsevier - ScienceDirect - الزویر - ساینس دایرکت
Keywords: طیف نگاری فلوئورسانس اشعه ایکس; SEM; scanning electron microscopy; XRD; X ray diffraction; BET; Brunauer-Emmett-Teller; XRF; X-ray fluorescence; GHSV; gas hourly space velocity; PP; propylene; AA; acrylic acid; ACA; acetic acid; COx; sum of CO and CO2; r; reaction rate; FTIR; fourie