دانلود مقالات ISI درباره بازتاب پرتو ایکس، بازتاب سنج پرتوایکس + ترجمه فارسی

Collapse of preformed cobalt stearate film on water surface

Keywords: بازتاب پرتو ایکس، بازتاب سنج پرتوایکس; Cobalt stearate; Langmuir monolayer; Monolayer collapse; Horizontal deposition; X-ray reflectivity; AFM;

دانلود رایگان متن کامل مقاله ISI 9 صفحه سال انتشار : 2009 سفارش ترجمه

In-situ X-ray investigations of quench-condensed thin gold films

Keywords: بازتاب پرتو ایکس، بازتاب سنج پرتوایکس; 61.10.Ht; 61.10.Kw; 61.72.Hh; 68.55-hX-ray absorption; X-ray reflectivity; Structural properties; Cryogenic temperatures; Gold

دانلود رایگان متن کامل مقاله ISI 9 صفحه سال انتشار : 2009 سفارش ترجمه

Surface roughness reduction in X-ray mirrors via sol–gel silica coatings

Keywords: بازتاب پرتو ایکس، بازتاب سنج پرتوایکس; X-ray optics; Sol–gel coatings; Micro-fabrication; X-ray reflectivity

دانلود رایگان متن کامل مقاله ISI 4 صفحه سال انتشار : 2008 سفارش ترجمه

Charged molecular effect on the degree of ordering of mesostructured silica thin film templated by mixed ionic micelles

Keywords: بازتاب پرتو ایکس، بازتاب سنج پرتوایکس; Mesostructured silica thin film; X-ray reflectivity; Degree of ordering; Surfactant;

دانلود رایگان متن کامل مقاله ISI 5 صفحه سال انتشار : 2008 سفارش ترجمه

Determination of microscopic interaction constants by X-ray reflectivity measurements

Keywords: بازتاب پرتو ایکس، بازتاب سنج پرتوایکس; 68.03.Cd; 61.10.Kw; 68.35.MdSurface tension; X-ray reflectivity; Gradient theory

دانلود رایگان متن کامل مقاله ISI 5 صفحه سال انتشار : 2008 سفارش ترجمه

The structure of DNA-containing complexes suggests the idea for a new adaptive sensor

Keywords: بازتاب پرتو ایکس، بازتاب سنج پرتوایکس; DNA; Structural study; X-ray reflectivity; Ellipsometry; DNA recognition

دانلود رایگان متن کامل مقاله ISI 5 صفحه سال انتشار : 2008 سفارش ترجمه

Comparative study of the growth of sputtered aluminum oxide films on organic and inorganic substrates

Keywords: بازتاب پرتو ایکس، بازتاب سنج پرتوایکس; Aluminum oxide; Roughness; Growth; AFM; X-ray reflectivity

دانلود رایگان متن کامل مقاله ISI 5 صفحه سال انتشار : 2008 سفارش ترجمه

The effect of surfactant removal on continuous mesoporous ultra-thin silica films-A study by X-ray reflectivity, X-ray diffraction and Kr adsorption

Keywords: بازتاب پرتو ایکس، بازتاب سنج پرتوایکس; Mesoporous silica film; X-ray reflectivity; Surfactant removal; Kr adsorption; X-ray diffraction;

دانلود رایگان متن کامل مقاله ISI 5 صفحه سال انتشار : 2008 سفارش ترجمه

Structural analysis of DC magnetron sputtered and spin coated thin films using RBS, TEM and X-ray reflectivity methods

Keywords: بازتاب پرتو ایکس، بازتاب سنج پرتوایکس; 68.49.sf; 68.37.Lp; 68.55.−aRBS; TEM; X-ray reflectivity; Thin films; Polymer films

دانلود رایگان متن کامل مقاله ISI 5 صفحه سال انتشار : 2008 سفارش ترجمه

Surface and structural disorder in MBE and sputtering deposited Cu thin films revealed by X-ray measurements

Keywords: بازتاب پرتو ایکس، بازتاب سنج پرتوایکس; Molecular beam epitaxy (MBE); X-ray reflectivity; X-ray diffraction; Reflection high energy electron diffraction (RHEED)

دانلود رایگان متن کامل مقاله ISI 5 صفحه سال انتشار : 2008 سفارش ترجمه

Applicability of X-ray reflectometry to studies of polymer solar cell degradation

Keywords: بازتاب پرتو ایکس، بازتاب سنج پرتوایکس; Organic; Polymer; X-ray reflectivity; Stability; Degradation

دانلود رایگان متن کامل مقاله ISI 6 صفحه سال انتشار : 2008 سفارش ترجمه

Mixed 2D molecular systems: Mechanic, thermodynamic and dielectric properties

Keywords: بازتاب پرتو ایکس، بازتاب سنج پرتوایکس; 68.47.Pe; 81.07.−b; Langmuir-Blodgett films; Maxwell displacement current; X-ray reflectivity; Atomic force microscopy; Monolayers; Electrical properties and measurements; Dielectric properties;

دانلود رایگان متن کامل مقاله ISI 6 صفحه سال انتشار : 2008 سفارش ترجمه

Bottom and top AF/FM interfaces of NiFe/FeMn/NiFe trilayers

Keywords: بازتاب پرتو ایکس، بازتاب سنج پرتوایکس; 81.15.Cd; 75.70.Cn; 68.35.Ct; 61.10.Eq; Magnetron sputtering; Exchange bias; Interface roughness; X-ray reflectivity;

دانلود رایگان متن کامل مقاله ISI 6 صفحه سال انتشار : 2008 سفارش ترجمه

Characterization of Langmuir–Blodgett organoclay films using X-ray reflectivity and atomic force microscopy

Keywords: بازتاب پرتو ایکس، بازتاب سنج پرتوایکس; Organoclay; Langmuir–Blodgett technique; X-ray reflectivity; Cation exchange capacity

دانلود رایگان متن کامل مقاله ISI 7 صفحه سال انتشار : 2008 سفارش ترجمه

The comparative study of thermal stability among silicon dioxide, fluorinated silicate glass, hydrogen silsesquioxane, and organosilicate glass dielectrics on silicon

Keywords: بازتاب پرتو ایکس، بازتاب سنج پرتوایکس; Thermal stability; Low-k; Fluorinated silicate glass; Hydrogen silsesquioxane; Organosilicate glass; X-ray reflectivity; Thermal desorption spectroscopy; Diffusion

دانلود رایگان متن کامل مقاله ISI 7 صفحه سال انتشار : 2008 سفارش ترجمه

Analysis of water condensation in P123 templated 2D hexagonal mesoporous silica films by X-ray reflectivity

Keywords: بازتاب پرتو ایکس، بازتاب سنج پرتوایکس; 61–10-kw; 68.90-+g; 81.16.Dn; 81.20.fwMesoporous materials; X-ray Reflectivity; Porosity; Silica thin films; Capillary condensation; Kelvin equation

دانلود رایگان متن کامل مقاله ISI 7 صفحه سال انتشار : 2008 سفارش ترجمه

Langmuir-Blodgett film from a bi-molecular layer at air-water interface

Keywords: بازتاب پرتو ایکس، بازتاب سنج پرتوایکس; Langmuir-Blodgett films; Fatty acid salts; X-ray reflectivity; Isotherms; AFM;

دانلود رایگان متن کامل مقاله ISI 7 صفحه سال انتشار : 2008 سفارش ترجمه

Monochromatization of characteristic X-rays using stepped X-ray waveguide

Keywords: بازتاب پرتو ایکس، بازتاب سنج پرتوایکس; 61.10.kw; 68.55.−a; 42.79.GnX-ray waveguide; X-ray reflectivity; Organic thin film

دانلود رایگان متن کامل مقاله ISI 4 صفحه سال انتشار : 2007 سفارش ترجمه

Morphological and structural characterizations of CrSi2 nanometric films deposited by laser ablation

Keywords: بازتاب پرتو ایکس، بازتاب سنج پرتوایکس; 61.10.Nz; 61.10.Kw; 81.15.Fg; 82.80.Yc; Pulsed laser deposition; Thin film; Electron microscopy; X-ray diffraction; X-ray reflectivity;

دانلود رایگان متن کامل مقاله ISI 4 صفحه سال انتشار : 2007 سفارش ترجمه

Kinetic stabilization of Fe film on GaAs(1 0 0): An in situ X-ray reflectivity study

Keywords: بازتاب پرتو ایکس، بازتاب سنج پرتوایکس; Fe; GaAs; Thin film; Growth; Interface; X-ray reflectivity;

دانلود رایگان متن کامل مقاله ISI 4 صفحه سال انتشار : 2007 سفارش ترجمه

In-situ investigations of magnetron sputtering processes with laboratory X-ray equipment

Keywords: بازتاب پرتو ایکس، بازتاب سنج پرتوایکس; 61.10.-i; 61.10.Kw; 68.55.-a; 81.15.CdSputter deposition; X-ray reflectivity; Grazing incidence X-ray scattering; Iron oxide

دانلود رایگان متن کامل مقاله ISI 4 صفحه سال انتشار : 2007 سفارش ترجمه

Study of thermal degradation of organic light emitting device structures by X-ray scattering

Keywords: بازتاب پرتو ایکس، بازتاب سنج پرتوایکس; Organic light emitting device; Thermal degradation; Intermixing; X-ray reflectivity

دانلود رایگان متن کامل مقاله ISI 4 صفحه سال انتشار : 2007 سفارش ترجمه

Adsorption of thin isobutane films on silicon investigated by X-ray reflectivity measurements

Keywords: بازتاب پرتو ایکس، بازتاب سنج پرتوایکس; 68.03.g; 68.15.e; 61.10.iThin films; Adsorption; X-ray reflectivity; X-ray scattering

دانلود رایگان متن کامل مقاله ISI 4 صفحه سال انتشار : 2007 سفارش ترجمه

Freezing transition of Langmuir-Gibbs alkane films on water

Keywords: بازتاب پرتو ایکس، بازتاب سنج پرتوایکس; Langmuir film; Gibbs; X-ray reflectivity; Surface freezing

دانلود رایگان متن کامل مقاله ISI 5 صفحه سال انتشار : 2007 سفارش ترجمه

X-ray scattering studies of molecular linkages in Zeolite microcrystal monolayers

Keywords: بازتاب پرتو ایکس، بازتاب سنج پرتوایکس; X-ray reflectivity; Molecular linkages; Monolayer; Zeolite;

دانلود رایگان متن کامل مقاله ISI 5 صفحه سال انتشار : 2007 سفارش ترجمه

Energy-dispersive X-ray reflectivity and GID for real-time growth studies of pentacene thin films

Keywords: بازتاب پرتو ایکس، بازتاب سنج پرتوایکس; X-ray diffraction; X-ray reflectivity; Organic semiconductors; Real-time monitoring

دانلود رایگان متن کامل مقاله ISI 5 صفحه سال انتشار : 2007 سفارش ترجمه

Temperature treatment of semiconducting polymers: An X-ray reflectivity study

Keywords: بازتاب پرتو ایکس، بازتاب سنج پرتوایکس; P3HT; F8T2; Poly aryl amine; X-ray reflectivity; Temperature study

دانلود رایگان متن کامل مقاله ISI 5 صفحه سال انتشار : 2007 سفارش ترجمه

Effects of annealing of poly(3-hexylthiophene) film on the performance of double-layered EL devices of ITO/polymer/Alq3/Mg–Ag

Keywords: بازتاب پرتو ایکس، بازتاب سنج پرتوایکس; Polythiophene; Regio-regularity; Hole-transport; EL device; Annealing; Interface; X-ray reflectivity

دانلود رایگان متن کامل مقاله ISI 5 صفحه سال انتشار : 2007 سفارش ترجمه

Biomaterial thin film deposition and characterization by means of MAPLE technique

Keywords: بازتاب پرتو ایکس، بازتاب سنج پرتوایکس; MAPLE (Matrix Assisted Pulsed Laser Evaporation); Nd:YAG laser; PEG (polyethylene glycol); biomaterials; FTIR microscopy; X-ray reflectivity;

دانلود رایگان متن کامل مقاله ISI 6 صفحه سال انتشار : 2007 سفارش ترجمه

Structural and optical properties of an InxGa1−xN/GaN nanostructure

Keywords: بازتاب پرتو ایکس، بازتاب سنج پرتوایکس; Metalorganic chemical vapor deposition; InxGa1−xN/GaN; X-ray reflectivity; Photoluminescence; Atomic force microscopy; Ellipsometry;

دانلود رایگان متن کامل مقاله ISI 6 صفحه سال انتشار : 2007 سفارش ترجمه

Nano-graphene structures deposited by N-IR pulsed laser ablation of graphite on Si

Keywords: بازتاب پرتو ایکس، بازتاب سنج پرتوایکس; 81.15.Fg; 81.07.−b; 81.05.Uw; 61.10.Eq; 68.37.Hk; 68.55.Jk; Oriented nano-graphene growth; N-IR PLD; Carbon films; Grazing incidence XRD; Film density; X-ray reflectivity;

دانلود رایگان متن کامل مقاله ISI 6 صفحه سال انتشار : 2007 سفارش ترجمه

Growth and magnetic study of sputtered Fe/Al multilayers

Keywords: بازتاب پرتو ایکس، بازتاب سنج پرتوایکس; Fe/Al multilayers; Interfacial intermixing; Magnetic anisotropy; Brillouin light scattering; X-ray reflectivity

دانلود رایگان متن کامل مقاله ISI 6 صفحه سال انتشار : 2007 سفارش ترجمه

Structural and magnetic properties of La2/3Ca1/3MnO3/LaNiO3 artificial superlattices prepared by rf magnetron sputtering

Keywords: بازتاب پرتو ایکس، بازتاب سنج پرتوایکس; X-ray reflectivity; Magnetic oxide supperlattices; rf sputtering

دانلود رایگان متن کامل مقاله ISI 6 صفحه سال انتشار : 2007 سفارش ترجمه

Characterization of thermally stable W/Ni multilayers by X-rays and cross-sectional transmission electron microscopy

Keywords: بازتاب پرتو ایکس، بازتاب سنج پرتوایکس; X-ray reflectivity; Superlattice multilayer structure; Cross-sectional transmission electron microscopy; X-ray diffraction

دانلود رایگان متن کامل مقاله ISI 6 صفحه سال انتشار : 2007 سفارش ترجمه

Combined magnetic X-ray and polarized neutron reflectivity study of the origins of exchange bias in the Co / FeF2 system

Keywords: بازتاب پرتو ایکس، بازتاب سنج پرتوایکس; Exchange bias; Uncompensated spins; Antiferromagnetism; X-ray reflectivity; Neutron reflectivity

دانلود رایگان متن کامل مقاله ISI 7 صفحه سال انتشار : 2007 سفارش ترجمه

Properties of the roughness in NiFe/FeMn exchange-biased system

Keywords: بازتاب پرتو ایکس، بازتاب سنج پرتوایکس; 81.15.Cd; 75.70.Cn; 68.35.Ct; 61.10.Eq; 68.37.Ps; Magnetron sputtering; Exchange bias; Interface roughness; X-ray reflectivity; AFM;

دانلود رایگان متن کامل مقاله ISI 7 صفحه سال انتشار : 2007 سفارش ترجمه

Formation of Ge islands from a Ge layer on Si substrate during post-growth annealing

Keywords: بازتاب پرتو ایکس، بازتاب سنج پرتوایکس; Ge nanostructures; X-ray reflectivity; Ge islands; Atomic force microscopy;

دانلود رایگان متن کامل مقاله ISI 7 صفحه سال انتشار : 2007 سفارش ترجمه

Thermal stability of amorphous molybdenum trioxide films prepared at different oxygen partial pressures by reactive DC magnetron sputtering

Keywords: بازتاب پرتو ایکس، بازتاب سنج پرتوایکس; MoO3; Sputtering; Effect of annealing; X-ray diffraction; X-ray reflectivity; Optical properties

دانلود رایگان متن کامل مقاله ISI 8 صفحه سال انتشار : 2007 سفارش ترجمه

Effect of plasma treatments on a porous low-k material – Study of pore sealing

Keywords: بازتاب پرتو ایکس، بازتاب سنج پرتوایکس; Porous low-k material; Pore sealing; Plasma treatments; Ellipsometric porosimetry; X-ray reflectivity

دانلود رایگان متن کامل مقاله ISI 9 صفحه سال انتشار : 2007 سفارش ترجمه

Epitaxial growth of Au and Pt on Fe3O4(1 1 1) surface

Keywords: بازتاب پرتو ایکس، بازتاب سنج پرتوایکس; Epitaxial growth; Interface energy; Surface energy; Metal; Oxide; Magnetite; Gold; Platinum; Fe3O4; Sputtering; TEM; X-ray diffraction; X-ray reflectivity;

دانلود رایگان متن کامل مقاله ISI 9 صفحه سال انتشار : 2007 سفارش ترجمه

Stacking structures of dry phospholipid films on a solid substrate

Keywords: بازتاب پرتو ایکس، بازتاب سنج پرتوایکس; Phospholipid; Dry film; Morphology; X-ray reflectivity; Atomic force microscopy

دانلود رایگان متن کامل مقاله ISI 4 صفحه سال انتشار : 2006 سفارش ترجمه

Langmuir–Blodgett membrane of amphiphilic di-block copolymer as the quasi-equilibrium state

Keywords: بازتاب پرتو ایکس، بازتاب سنج پرتوایکس; Amphiphilic block copolymer; Liquid crystal; LB membrane; X-ray Reflectivity; In-plane; Nano-structure

دانلود رایگان متن کامل مقاله ISI 4 صفحه سال انتشار : 2006 سفارش ترجمه

X-ray reflectivity study of hydrogen implanted silicon

Keywords: بازتاب پرتو ایکس، بازتاب سنج پرتوایکس; Silicon; Hydrogen; Ion implantation; X-ray reflectivity;

دانلود رایگان متن کامل مقاله ISI 4 صفحه سال انتشار : 2006 سفارش ترجمه

Electron density profile at the interface of SiO2/Si(0 0 1)

Keywords: بازتاب پرتو ایکس، بازتاب سنج پرتوایکس; SiO2/Si(0 0 1) system; X-ray reflectivity; Electron density profile;

دانلود رایگان متن کامل مقاله ISI 4 صفحه سال انتشار : 2006 سفارش ترجمه

Glass transition and thermal expansivity of polystyrene thin films

Keywords: بازتاب پرتو ایکس، بازتاب سنج پرتوایکس; Polymer thin films; X-ray reflectivity; Inelastic neutron scattering; Glass transition temperature; Thermal expansivity;

دانلود رایگان متن کامل مقاله ISI 4 صفحه سال انتشار : 2006 سفارش ترجمه

XRR and GISAXS study of silicon oxynitride films

Keywords: بازتاب پرتو ایکس، بازتاب سنج پرتوایکس; Silicon oxynitride films; X-ray reflectivity; Small-angle X-ray scattering;

دانلود رایگان متن کامل مقاله ISI 5 صفحه سال انتشار : 2006 سفارش ترجمه

Structural characterization of sputter-deposited Ba0.48Sr0.52TiO3/LaNiO3 artificial superlattice structure by X-ray reflectivity and diffraction

Keywords: بازتاب پرتو ایکس، بازتاب سنج پرتوایکس; X-ray reflectivity; Ferroelectric superlattice; RF sputtering

دانلود رایگان متن کامل مقاله ISI 5 صفحه سال انتشار : 2006 سفارش ترجمه

Determination of porosity of mesoporous silica thin films by quantitative X-ray reflectivity analysis and GISAXS

Keywords: بازتاب پرتو ایکس، بازتاب سنج پرتوایکس; Porosity; Mesoporous; Thin films; X-ray reflectivity; GISAXS; Hybrid materials

دانلود رایگان متن کامل مقاله ISI 5 صفحه سال انتشار : 2006 سفارش ترجمه

Surface modification of mica due to titanium sputtering as studied by positron annihilation

Keywords: بازتاب پرتو ایکس، بازتاب سنج پرتوایکس; Slow positron beam; Mica; Sputtered Ti coating; Positron implantation depth; Silicate sheet structure; X-ray reflectivity;

دانلود رایگان متن کامل مقاله ISI 5 صفحه سال انتشار : 2006 سفارش ترجمه

In situ X-ray synchrotron study of organic semiconductor ultra-thin films growth

Keywords: بازتاب پرتو ایکس، بازتاب سنج پرتوایکس; 61.66.Hq; 68.55.−a; 68.55.JkOrganic semiconductors; Thin films; X-ray reflectivity; Structure

دانلود رایگان متن کامل مقاله ISI 5 صفحه سال انتشار : 2006 سفارش ترجمه