دانلود مقالات ISI درباره بازتاب پرتو ایکس، بازتاب سنج پرتوایکس + ترجمه فارسی

Structural changes induced by thermal annealing in Cr/C multilayers

Keywords: بازتاب پرتو ایکس، بازتاب سنج پرتوایکس; Cr/C multilayer; Interface; Thermal effects; Raman spectroscopy; X-ray photoelectron spectroscopy; X-ray reflectivity;

دانلود رایگان متن کامل مقاله ISI 16 صفحه سال انتشار : 2014 سفارش ترجمه

Stoichiometry dependence of the optical properties of amorphous-like Inx−wGawZn1−xO1+0.5x−δ thin films

Keywords: بازتاب پرتو ایکس، بازتاب سنج پرتوایکس; 81.15.Fg; 81.05.Gc; 61.43.Dq; 73.61.Jc; 78.66.Jg; Transparent conductive oxides; Amorphous oxide semiconductors; Thin films; X-ray reflectivity; Spectroscopic ellipsometry; Optical properties;

دانلود رایگان متن کامل مقاله ISI 4 صفحه سال انتشار : 2013 سفارش ترجمه

Depth profile investigation of the incorporated iron atoms during Kr+ ion beam sputtering on Si (001)

Keywords: بازتاب پرتو ایکس، بازتاب سنج پرتوایکس; Silicon; Depth profile; Sputtering; Nano-patterning; X-ray reflectivity; X-ray absorption near edge spectroscopy;

دانلود رایگان متن کامل مقاله ISI 5 صفحه سال انتشار : 2013 سفارش ترجمه

X-ray reflectivity analysis on initial stage of diamond-like carbon film deposition on Si substrate by RF plasma CVD and on removal of the sub-surface layer by oxygen plasma etching

Keywords: بازتاب پرتو ایکس، بازتاب سنج پرتوایکس; Diamond-like carbon; Amorphous carbon; X-ray reflectivity; Initial stage; Plasma CVD;

دانلود رایگان متن کامل مقاله ISI 5 صفحه سال انتشار : 2013 سفارش ترجمه

Room temperature ferromagnetism down to 10 nanometer Ni-Fe-Mo alloy films

Keywords: بازتاب پرتو ایکس، بازتاب سنج پرتوایکس; Soft ferromagnetic; Disordered thinfilm; X-ray reflectivity; Rutherford back scattering microscopy; Atomic force microscopy; Scanning electron microscopy;

دانلود رایگان متن کامل مقاله ISI 6 صفحه سال انتشار : 2013 سفارش ترجمه

Atomic layer deposition of TiO2 from tetrakis(dimethylamino)titanium and H2O

Keywords: بازتاب پرتو ایکس، بازتاب سنج پرتوایکس; Atomic layer deposition; Tetrakis(dimethylamino)titanium; Titanium dioxide; X-ray diffraction; X-ray reflectivity;

دانلود رایگان متن کامل مقاله ISI 7 صفحه سال انتشار : 2013 سفارش ترجمه

Interface width evaluation in thin layered CoFeB/MgO multilayers including Ru or Ta buffer layer by X-ray reflectivity

Keywords: بازتاب پرتو ایکس، بازتاب سنج پرتوایکس; X-ray reflectivity; Multilayers; CoFeB/MgO; Ta; Ru; Interface width; Perpendicular magnetic anisotropy

دانلود رایگان متن کامل مقاله ISI 4 صفحه سال انتشار : 2013 سفارش ترجمه

Preparation and characterization of the Mo(C)N/Mo(C) multilayer coating

Keywords: بازتاب پرتو ایکس، بازتاب سنج پرتوایکس; Magnetron sputtering; Mo(C)N; Multilayer coatings; Hardness; X-ray reflectivity

دانلود رایگان متن کامل مقاله ISI 5 صفحه سال انتشار : 2013 سفارش ترجمه

Ga19Sb81 film for multi-level phase-change memory

Keywords: بازتاب پرتو ایکس، بازتاب سنج پرتوایکس; Multi-level memory; Phase-change memory; Crystallization temperature; X-ray reflectivity; Thermal stability;

دانلود رایگان متن کامل مقاله ISI 5 صفحه سال انتشار : 2013 سفارش ترجمه

The multipurpose X-ray diffraction end-station of the BM25B-SpLine synchrotron beamline at the ESRF

Keywords: بازتاب پرتو ایکس، بازتاب سنج پرتوایکس; X-Ray Reflectivity; Surface Diffraction; Single Crystal Diffraction; Reciprocal Space Maps; Grazing Incidence Diffraction; High Resolution Powder Diffraction

دانلود رایگان متن کامل مقاله ISI 6 صفحه سال انتشار : 2013 سفارش ترجمه

Microstructure and optical properties of Al2O3/ZrO2 nano multilayer thin films prepared by pulsed laser deposition

Keywords: بازتاب پرتو ایکس، بازتاب سنج پرتوایکس; Multilayers; Nanostructures; Thin films; Physical vapour deposition; X-ray reflectivity; Atomic force microscopy; Optical properties

دانلود رایگان متن کامل مقاله ISI 6 صفحه سال انتشار : 2013 سفارش ترجمه

Surface activity and structures of two fragments of the human antimicrobial LL-37

Keywords: بازتاب پرتو ایکس، بازتاب سنج پرتوایکس; Antimicrobial peptides; Cathelicidins; Surface activity; Adsorption; Secondary structure; CD; IRRAS; X-ray reflectivity

دانلود رایگان متن کامل مقاله ISI 7 صفحه سال انتشار : 2013 سفارش ترجمه

Combined in situ x-ray scattering and electrical measurements for characterizing phase transformations in nanometric functional films

Keywords: بازتاب پرتو ایکس، بازتاب سنج پرتوایکس; Combined in situ characterizations; X-ray diffraction; X-ray reflectivity; Sheet resistance; Phase transition; Solid phase reaction; Chalcogenide alloy; Silicide

دانلود رایگان متن کامل مقاله ISI 7 صفحه سال انتشار : 2013 سفارش ترجمه

Optical properties of amorphous-like indium zinc oxide and indium gallium zinc oxide thin films

Keywords: بازتاب پرتو ایکس، بازتاب سنج پرتوایکس; Transparent conductive oxides; Amorphous oxide semiconductors; Thin films; X-ray reflectivity; Spectroscopic ellipsometry; Optical properties

دانلود رایگان متن کامل مقاله ISI 4 صفحه سال انتشار : 2012 سفارش ترجمه

Adsorption of nanoparticles at the solid-liquid interface

Keywords: بازتاب پرتو ایکس، بازتاب سنج پرتوایکس; Nanoparticle; Adsorption; X-ray reflectivity; Small angle X-ray scattering;

دانلود رایگان متن کامل مقاله ISI 4 صفحه سال انتشار : 2012 سفارش ترجمه

Zwitterionic lipid (DPPC)–protein (BSA) complexes at the air–water interface

Keywords: بازتاب پرتو ایکس، بازتاب سنج پرتوایکس; Langmuir monolayer; DPPC; BSA; Out-of-plane structure; π-A isotherm; X-ray reflectivity

دانلود رایگان متن کامل مقاله ISI 4 صفحه سال انتشار : 2012 سفارش ترجمه

Surfactant controlled interfacial alloying in thermally evaporated Cu/Co multilayers

Keywords: بازتاب پرتو ایکس، بازتاب سنج پرتوایکس; CuCo alloys; CuCo multilayers; E-beam evaporation; X-ray reflectivity

دانلود رایگان متن کامل مقاله ISI 5 صفحه سال انتشار : 2012 سفارش ترجمه

Hydrophilic-like wettability of Cl-passivated Ge(0 0 1) surface

Keywords: بازتاب پرتو ایکس، بازتاب سنج پرتوایکس; Surface passivation; Hydrophilic and hydrophobic surface; Langmuir-Blodgett film; X-ray reflectivity; Atomic force microscopy;

دانلود رایگان متن کامل مقاله ISI 6 صفحه سال انتشار : 2012 سفارش ترجمه

Role of metal ions of Langmuir-Blodgett film in hydrophobic to hydrophilic transition of HF-treated Si surface

Keywords: بازتاب پرتو ایکس، بازتاب سنج پرتوایکس; X-ray reflectivity; Interfaces; Thin films; X-ray photoelectron spectroscopy (XPS);

دانلود رایگان متن کامل مقاله ISI 6 صفحه سال انتشار : 2012 سفارش ترجمه

Evaluation of depth distribution and characterization of nanoscale Ta/Si multilayer thin film structures

Keywords: بازتاب پرتو ایکس، بازتاب سنج پرتوایکس; Nanoscale; Ta/Si multilayers; Time-of-flight secondary ion mass spectrometry; Depth resolution; Atomic mixing; X-ray reflectivity; Kelvin probe force spectroscopy;

دانلود رایگان متن کامل مقاله ISI 6 صفحه سال انتشار : 2012 سفارش ترجمه

Ultra-thin films based on random copolymers containing perfluoropolyether side chains

Keywords: بازتاب پرتو ایکس، بازتاب سنج پرتوایکس; Fluorinated copolymers; Thin films; Spin-coating; X-ray reflectivity; Atomic force microscopy; Nanocoatings

دانلود رایگان متن کامل مقاله ISI 6 صفحه سال انتشار : 2012 سفارش ترجمه

Physical properties and surface/interface analysis of nanocrystalline WO3 films grown under variable oxygen gas flow rates

Keywords: بازتاب پرتو ایکس، بازتاب سنج پرتوایکس; WO3 thin films; Microstructure; Density; Surface/interface structure; X-ray reflectivity; Electron microscopy;

دانلود رایگان متن کامل مقاله ISI 6 صفحه سال انتشار : 2012 سفارش ترجمه

Ion irradiation induced evolution of nanostructure in a graded multi-trilayer system

Keywords: بازتاب پرتو ایکس، بازتاب سنج پرتوایکس; Graded multilayer; X-ray reflectivity; X-ray standing wave; Ion-beam induced modifications; Transmission electron microscopy;

دانلود رایگان متن کامل مقاله ISI 8 صفحه سال انتشار : 2012 سفارش ترجمه

Effect of thermal modification on swelling dynamics of ultrathin polymer films

Keywords: بازتاب پرتو ایکس، بازتاب سنج پرتوایکس; Swelling; X-ray reflectivity; Thin film;

دانلود رایگان متن کامل مقاله ISI 8 صفحه سال انتشار : 2012 سفارش ترجمه

Effect of film thickness, type of buffer layer, and substrate temperature on the morphology of dicyanovinyl-substituted sexithiophene films

Keywords: بازتاب پرتو ایکس، بازتاب سنج پرتوایکس; X-ray diffraction; X-ray reflectivity; Crystallite; Organic semiconductor; Sexithiophene;

دانلود رایگان متن کامل مقاله ISI 9 صفحه سال انتشار : 2012 سفارش ترجمه

Impact of soda-lime borosilicate glass composition on water penetration and water structure at the first time of alteration

Keywords: بازتاب پرتو ایکس، بازتاب سنج پرتوایکس; Borosilicate glass; Water penetration; X-ray reflectivity; Attenuated total reflection infrared spectroscopy; Water diffusion coefficient;

دانلود رایگان متن کامل مقاله ISI 10 صفحه سال انتشار : 2012 سفارش ترجمه

Amorphous iron-(hydr) oxide networks at liquid/vapor interfaces: In situ X-ray scattering and spectroscopy studies

Keywords: بازتاب پرتو ایکس، بازتاب سنج پرتوایکس; Iron (hydr) oxide; Charged templates; Bio-inspired materials; X-ray reflectivity; X-ray fluorescence; Surface-XANES; Mms6; Organic growth templates for inorganic materials;

دانلود رایگان متن کامل مقاله ISI 10 صفحه سال انتشار : 2012 سفارش ترجمه

Non-destructive thickness characterization of Si based heterostructure by X-ray diffraction and reflectivity

Keywords: بازتاب پرتو ایکس، بازتاب سنج پرتوایکس; High-resolution X-ray diffraction; X-ray reflectivity; Thickness; Si based heterostructure

دانلود رایگان متن کامل مقاله ISI 4 صفحه سال انتشار : 2011 سفارش ترجمه

Extension of Far UV spectroscopic ellipsometry studies of High-κ dielectric films to 130 nm

Keywords: بازتاب پرتو ایکس، بازتاب سنج پرتوایکس; Spectroscopic ellipsometry; High-κ; Hafnium; Lanthanum; X-ray reflectivity; Cody-Lorentz;

دانلود رایگان متن کامل مقاله ISI 5 صفحه سال انتشار : 2011 سفارش ترجمه

Spectroscopic ellipsometry characterization of high-k gate stacks with Vt shift layers

Keywords: بازتاب پرتو ایکس، بازتاب سنج پرتوایکس; High-k dielectrics; Film thickness; Spectroscopic ellipsometry; Vt shift layer; Capping layer; HfO2; La2O3; X-ray reflectivity;

دانلود رایگان متن کامل مقاله ISI 5 صفحه سال انتشار : 2011 سفارش ترجمه

ZnO thin film characterization by X-ray reflectivity optimization using genetic algorithm and Fourier transformation

Keywords: بازتاب پرتو ایکس، بازتاب سنج پرتوایکس; X-ray reflectivity; Genetic algorithm; Zinc oxide; Fourier transformation;

دانلود رایگان متن کامل مقاله ISI 5 صفحه سال انتشار : 2011 سفارش ترجمه

Surface characterization of thin silicon-rich oxide films

Keywords: بازتاب پرتو ایکس، بازتاب سنج پرتوایکس; Silicon-rich oxide; Low pressure chemical vapour deposition; Scanning electron microscopy; X-ray reflectivity

دانلود رایگان متن کامل مقاله ISI 5 صفحه سال انتشار : 2011 سفارش ترجمه

Effect of water and air–water interface on the structural modification of Ni-arachidate Langmuir–Blodgett films

Keywords: بازتاب پرتو ایکس، بازتاب سنج پرتوایکس; Langmuir monolayer; LB films; Nickel arachidate; Interface; Surface modification; Subphase effect; X-ray reflectivity; Out-of-plane structure; AFM; Morphology

دانلود رایگان متن کامل مقاله ISI 6 صفحه سال انتشار : 2011 سفارش ترجمه

Ion beam sputter deposited W/Si multilayers: Influence of re-sputtering on the interface structure and structure modification at ultra short periods

Keywords: بازتاب پرتو ایکس، بازتاب سنج پرتوایکس; 65.35.Ct; 68.37.Lp; 68.65.Ac; 61.05.cf; 41.50.+h; Multilayer; X-ray reflectivity; X-ray diffraction; X-ray optics;

دانلود رایگان متن کامل مقاله ISI 6 صفحه سال انتشار : 2011 سفارش ترجمه

X-ray scattering study of interfacial roughness in Nb/PdNi multilayers

Keywords: بازتاب پرتو ایکس، بازتاب سنج پرتوایکس; Specular X-ray scattering; Diffuse X-ray scattering; Interfacial roughness; Metallic multilayers; X-ray reflectivity; Correlated roughness; Superconductivity; Ferromagnetism;

دانلود رایگان متن کامل مقاله ISI 6 صفحه سال انتشار : 2011 سفارش ترجمه

X-ray standing waves in a multi-trilayer system with linearly varying period

Keywords: بازتاب پرتو ایکس، بازتاب سنج پرتوایکس; X-ray standing waves; X-ray reflectivity; Multilayers;

دانلود رایگان متن کامل مقاله ISI 7 صفحه سال انتشار : 2011 سفارش ترجمه

Real-time monitoring of nanomolar binding to a cyclodextrin monolayer immobilized on a Si/SiO2/novolac surface using white light reflectance spectroscopy: The case of triclosan

Keywords: بازتاب پرتو ایکس، بازتاب سنج پرتوایکس; Cyclodextrin; Monolayer; Triclosan; White light reflectance spectroscopy; X-ray reflectivity

دانلود رایگان متن کامل مقاله ISI 7 صفحه سال انتشار : 2011 سفارش ترجمه

Effect of surface modification on protein retention and cell proliferation under strain

Keywords: بازتاب پرتو ایکس، بازتاب سنج پرتوایکس; Equibiaxial strain; Laminin; Polydimethylsiloxane; Smooth muscle cells; X-ray reflectivity

دانلود رایگان متن کامل مقاله ISI 8 صفحه سال انتشار : 2011 سفارش ترجمه

Structural and magnetic characterization of LaSrMnO3 thin films deposited by laser ablation on MgO substrates

Keywords: بازتاب پرتو ایکس، بازتاب سنج پرتوایکس; LSMO thin films; Under-oxidized; Structure; Electrical properties; Magnetic properties; X-Ray reflectivity

دانلود رایگان متن کامل مقاله ISI 4 صفحه سال انتشار : 2010 سفارش ترجمه

The influence of lanthanum doping position in ultra-thin HfO2 films for high-k gate dielectrics

Keywords: بازتاب پرتو ایکس، بازتاب سنج پرتوایکس; High-k dielectric; X-ray reflectivity; X-ray diffraction; Flatband voltage shift; Conduction mechanism

دانلود رایگان متن کامل مقاله ISI 5 صفحه سال انتشار : 2010 سفارش ترجمه

Study of structural evolution during controlled degradation of ultrathin polymer films

Keywords: بازتاب پرتو ایکس، بازتاب سنج پرتوایکس; X-ray reflectivity; Water soluble polymer; Structural modification;

دانلود رایگان متن کامل مقاله ISI 6 صفحه سال انتشار : 2010 سفارش ترجمه

Effect of B4C diffusion barriers on the thermal stability of Sc/Si periodic multilayers

Keywords: بازتاب پرتو ایکس، بازتاب سنج پرتوایکس; Multilayer; X-ray reflectivity; X-ray scattering; Diffusion barrier; Annealing; Sc; Si; B4C;

دانلود رایگان متن کامل مقاله ISI 7 صفحه سال انتشار : 2010 سفارش ترجمه

Structural and electrical properties of HfO2/Dy2O3 gate stacks on Ge substrates

Keywords: بازتاب پرتو ایکس، بازتاب سنج پرتوایکس; Germanium; Dy2O3; HfO2; Rare-earth oxides; Transmission Electron Microscopy; X-ray reflectivity; Electrical properties and measurements

دانلود رایگان متن کامل مقاله ISI 8 صفحه سال انتشار : 2010 سفارش ترجمه

Polyelectrolyte-surfactant complexes on solid surface

Keywords: بازتاب پرتو ایکس، بازتاب سنج پرتوایکس; Polyelectrolytes; DNA; Carboxymethyl cellulose; Cationic surfactants; DTAB; Polyelectrolyte-surfactant complexes; Horizontal deposition; X-ray reflectivity; AFM; Surface pressure;

دانلود رایگان متن کامل مقاله ISI 9 صفحه سال انتشار : 2010 سفارش ترجمه

Description of surface roughness of sol-gel films/coatings by X-ray reflectivity technique

Keywords: بازتاب پرتو ایکس، بازتاب سنج پرتوایکس; Sol-gel film; Surface roughness; X-ray reflectivity; First Born approximation;

دانلود رایگان متن کامل مقاله ISI 4 صفحه سال انتشار : 2009 سفارش ترجمه

Study of the morphology of ultra-thin Pt films as the anode of an organic light emitting display

Keywords: بازتاب پرتو ایکس، بازتاب سنج پرتوایکس; OLED; Pt thin film; Sheet resistance; X-ray reflectivity

دانلود رایگان متن کامل مقاله ISI 4 صفحه سال انتشار : 2009 سفارش ترجمه

Effect of defects on the reflectivity of Cr/C multilayer soft X-ray mirror at 4.48 nm

Keywords: بازتاب پرتو ایکس، بازتاب سنج پرتوایکس; 78.20.−e; 81.70.−q; Multilayer structure; X-ray reflectivity; XPS; Interlayer; Contamination;

دانلود رایگان متن کامل مقاله ISI 5 صفحه سال انتشار : 2009 سفارش ترجمه

Atomic layer deposition of ytterbium oxide using β-diketonate and ozone precursors

Keywords: بازتاب پرتو ایکس، بازتاب سنج پرتوایکس; 81.15. −z; 71.20.Eh; 78.70.Ck; 78.66.Bz; 68.55.Ln; 68.37.Ps; Atomic layer deposition; Ytterbium oxide; TOF-ERDA; X-ray diffraction; X-ray reflectivity; Refractive index;

دانلود رایگان متن کامل مقاله ISI 5 صفحه سال انتشار : 2009 سفارش ترجمه

X-ray reflectivity studies on DLC films deposited by microwave ECR CVD: Effect of substrate bias

Keywords: بازتاب پرتو ایکس، بازتاب سنج پرتوایکس; 52.50. Sw; 87.64.Je; 81.05.Uw; 61.10.Kw; Electron cyclotron resonance (ECR) plasmas; Raman scattering spectroscopy; X: Diamond like carbon; X-ray reflectivity;

دانلود رایگان متن کامل مقاله ISI 6 صفحه سال انتشار : 2009 سفارش ترجمه

Pulsed laser ablated off-stoichiometric thin films of the Heusler alloy Co2TiSn on Si (100) substrate

Keywords: بازتاب پرتو ایکس، بازتاب سنج پرتوایکس; Heusler alloy; Pulsed laser ablation; X-ray diffraction; X-ray reflectivity; Thermal annealing; Magneto-optical Kett effect

دانلود رایگان متن کامل مقاله ISI 6 صفحه سال انتشار : 2009 سفارش ترجمه