آشنایی با موضوع

بازتاب پرتو ایکس یا بازتاب سنج پرتوایکس X-ray reflectivity به اختصار XRR آنالیزی غیر مخرب محسوب می شود که اطلاعاتی در مورد چگالی، ضخامت و زبری سطح و فصل مشترک لایه ها می دهد. بازتاب پرتو ایکس در مطالعه علم سطح بسیار مورد توجه است، زیرا این تکنیک برای تعیین مشخصه های سطح از جمله ضخامت، چگالی و زبری لایه های نازک و ساختارهای چندلایه ای به کار گرفته می شود. این تکنیک براین اساس است که پرتویی از پرتوها یا یکساز سطح صاف و همواری بازتاب می شود و سپس شدت پرتوهای بازتاب شده اندازه گیری می شود. در تکنیک XRR، پرتوتکفام و موازی شده ایکس با طول موج λ و با زاویه خراشان (θ) بر سطح نمونه فرود می‌آید. سپس شدت پرتوهای بازتابیده از سطح نمونه درجهت آینه‌ای که زاویه تابش برابر با زاویه بازتابش است، اندازه‌گیری می‌شود. در XRR؛ زاویه فرود بایستی خراشان باشد تا پرتو ایکس در ماده نفوذ نکند و همچنین بازتاب کلی در زاویه‌ی کمتر از زاویه بحرانی روی دهد. همچنین نبایستی پرتو ایکس در ماده نفوذ کند. برای تمامی زاویه‌های کمتر از زاویه بحرانی، بازتابش کلی روی می‌دهد و شدت بیشینه خواهد بود.
در این صفحه تعداد 313 مقاله تخصصی درباره بازتاب پرتو ایکس، بازتاب سنج پرتوایکس که در نشریه های معتبر علمی و پایگاه ساینس دایرکت (Science Direct) منتشر شده، نمایش داده شده است. برخی از این مقالات، پیش تر به زبان فارسی ترجمه شده اند که با مراجعه به هر یک از آنها، می توانید متن کامل مقاله انگلیسی همراه با ترجمه فارسی آن را دریافت فرمایید.
در صورتی که مقاله مورد نظر شما هنوز به فارسی ترجمه نشده باشد، مترجمان با تجربه ما آمادگی دارند آن را در اسرع وقت برای شما ترجمه نمایند.
مقالات ISI بازتاب پرتو ایکس، بازتاب سنج پرتوایکس (ترجمه نشده)
مقالات زیر هنوز به فارسی ترجمه نشده اند.
در صورتی که به ترجمه آماده هر یک از مقالات زیر نیاز داشته باشید، می توانید سفارش دهید تا مترجمان با تجربه این مجموعه در اسرع وقت آن را برای شما ترجمه نمایند.