دانلود مقالات ISI درباره طیف نگاری فلوئورسانس اشعه ایکس + ترجمه فارسی

طیف نگاری فلوئورسانس اشعه ایکس، (XRF=X-ray Fluorescence Spectroscopy) ، از روش های آنالیز عنصری است که به دلیل سرعت بالای آنالیز در بعضی از صنایع دارای اهمیت است. در این روش، اشعه ایکس به نمونه می تابد و در اثر برانگیختن اتم ها و انتقال الکترونی در لایه های مختلفِ اتم، اشعه ایکس ثانویه، تولید می شود که با تعیین طول موج (انرژی) اشعه ایکس ثانویه که مشخصه اتم است؛ می توان عناصر موجود در نمونه مورد نظر را شناسایی کرد. با استفاده از این تکنیک، می توان آنالیز عنصری را به ‌صورت کیفی و تا حدودی کمی به خصوص در مورد نمونه های معدنی، باستانی، زمین‌شناسی، کانی‌ها، سنگ‌ها، شیشه، سیمان، سرامیک‌ها و آلیاژهای فلزی انجام داد که رد یابی عناصر از سدیم تا اورانیوم را ممکن می سازد که دقت آن برای عناصر سنگین بیشتر است. اساس کار طیف سنجی فلورسانس پرتو ایکس پرتو خروجی از لوله پدید آورنده پرتو ایکس به نمونه می‌ تابد و در اثر بمباران، الکترون‌ های موجود در مدار های داخلی اتم خارج شده و جایگزینی این الکترون‌ ها از مدارهای بالایی، سبب پدید آمدن پرتو ایکس مشخصه خواهد شد. اساس این پدیده، مانند حالتی است که نمونه، توسط الکترون بمباران می‌ شود. نحوه ایجاد پرتو ایکس مشخصه طیف سنجی فلورسانس پرتو ایکس به دو نوع WDS و EDS تقسیم بندی می شود. در روش WDS پرتوی ایکس خروجی از نمونه مجهول، پیش از ورود به آشکار ساز، توسط یک بلور تفکیک می شود. در روش EDS پرتو خروجی از نمونه بدون آنکه توسط بلور آنالیز کننده تفکیک شود، وارد آشکارساز می شود. تفاوت اصلی دو روش EDS و WDS به سرعت، دقت، قدرت تفکیک این دو روش مربوط است. اجزای دستگاه طیف سنج فلورسانس پرتوی ایکس لوله پدیدآورنده پرتو ایکس: در دستگاه‌ های مختلف طیف سنج فلورسانس پرتو ایکس، از لوله‌ های گوناگونی استفاده می‌ شود. تفاوت آن‌ ها در توان استفاده شده در لوله، محل قرار گرفتن پنجره برلیمی و نوع سرمایش است. پنجره خروجی می‌تواند در دیواره کناری و یا در انتهای لوله قرار داشته باشد. در این نوع لوله، آند به صورت یک لایه نازک بر روی پنجره برلیومی قرار دارد. جنس آند در دستگاه طیف سنج فلورسانس پرتو ایکس به طور معمول فلز کروم، مولیبدن، رنیوم یا تنگستن است. وظیفه لوله پرتو ایکس، پدید آوردن پرتویی با شدت زیاد برای برانگیختگی همه عنصر های موجود در نمونه مجهول است. به عبارت دیگر، طیف پرتو خروجی از لوله، باید طول موج کمتری از لبه جذب عنصر های موجود در نمونه مجهول داشته باشد. بلور آنالیز کننده: بلور فلورید سدیم (NiF) بیشترین کاربرد را در دستگاه‌ های دستگاه طیف سنج فلورسانس پرتو ایکس دارد. این بلور را می‌ توان با صفحه‌ های (220) و (200) استفاده کرد. این بلور برای شناسایی عنصر های پتاسیم تا اورانیم به کار می‌ رود. از بلور ژرمانیم نیز برای شناسایی عنصرهای فسفر تا کلر استفاده می‌کنند. برای این منظور صفحه‌های (111) این بلور مورد توجه‌ اند. مواد دیگری که به عنوان بلور آنالیز کننده، در دستگاه XRF استفاده می‌شوند، برخی از ترکیب‌ های پلیمری هستند که به ویژه برای شناسایی عنصر های سبک مفیدترند. امروزه در دستگاه‌ های XRF، برای پرهیز از جابه‌جایی پیوسته بلور های آنالیز کننده، آن‌ ها را روی یک منشور چند وجهی مطابق شکل زیر سوار می‌کنند و بدین ترتیب با چرخاندن منشور، بلور مورد نظر به راحتی در برابر پرتو ایکس قرار می‌گیرد. کاربرد اصلی دستگاه XRF در صنایعی مانند فولاد و سیمان است. در این صنایع، تغییر مقدار عنصر های موجود در نمونه، در گستره کوچک و مشخصی است و دوم آن که نیازمند سرعت زیاد آنالیز برای تصمیم‌ گیری در تنظیم ترکیب هستند. محدود بودن عنصر های موجود در نمونه مجهول و گستره تغییر آن‌ها، امکان استفاده از منحنی‌ های کالیبراسیون را با اطمینان به وجود می‌ آورد. بدیهی است که در این نوع صنایع، دستگاه همزمان بیشتر مورد توجه باشد.